我在中曾经提到VS 2010提供了一种所谓“测试株连分析”的功能，即"Test Impact Analysis"（我们可以把它简写为TIA），利用TIA，开发人员以及测试人员在进行回归测试时，可以很容易地过滤掉大量未受某次代码改动影响的测试，把有限的时间、精力集中于执行确实涉及代码变动的测试，从而避免时间、人力和硬件资源的浪费。今天，我们将通过一个简单的实例——加减乘除计算器，来深入了解一下TIA的功效。

     首先，我把从网上找到的一个用C#写的“加减乘除计算器”程序的源码加进了我在TFS 2010服务器上创建的一个团队项目(Team Project)中，接着我又在这个Team Project中定义了一个新的Team Build，在定义这个Team Build时，我特别把其中的Analyze Test Impact这个选项设成了"True"（参考图1）。

图1 在定义Team Build时设置"Analyze Test Impact"

     在使用VS 2010中的Team Explorer定义好这个Team Build并成功运行了一次之后，我又通过Microsoft Test Manager 2010创建了一个名为"SimCalc Test Plan"的测试计划。为了突出重点，我把这个测试计划设置为仅使用Test Impact一个诊断数据适配器收集测试数据（参考图2），对“诊断数据适配器”这个概念不熟悉的朋友，可以参考我的。

图2 在"Test Settings"中仅留下"Test Impact"诊断数据适配器

     在配置好诊断数据适配器之后，我又给"SimCalc Test Plan"指定了一个待测的Build（参考图3），大家从图3中可以发现，我刚才定义并运行过的Team Build已经为“加减乘除计算器”这个项目生成了一个新的Build并显示在Available builds这个下拉列表里了。

图3 给测试计划指定一个待测系统的Build

     在做好以上必要的准备工作之后，我往"SimCalc Test Plan"这个测试计划中添加了4个测试用例，分别测试计算器的加、减、乘、除四项功能。图4是我添加完4个测试用例后Microsoft Test Manager的界面。

图4 "SimCalc Test Plan"测试计划中的4个测试用例

     现在，让我们来执行一下这4个测试用例，在执行测试用例时须注意一点：要待Microsoft Test Runnerxx启动之后再打开待测软件（即计算器程序），否则Test Impact诊断数据适配器可能因未完成初始化而无法正常收集数据。

     测试的结果是：针对加法、减法、乘法功能的测试成功，而针对除法功能的测试失败，原因是除数为0时程序崩溃（参考图5）。

图5 3项测试成功1项测试失败

     现在让我们在Visual Studio中打开“计算器”项目，把与除法相关的代码修改一下，强制除数不能为零，之后把代码签入源码库，随即再运行一次Team Build。Build结束后，回到Microsoft Test Manager，当我们把测试对象改为{zx1}生成的Build后，MTM会基于TIA自动找出涉及刚才代码改动的测试，为我们生成一个“建议测试列表”，即Recommended Tests。此处因为我们仅改动了程序中与除法相关的代码，所以MTM也只给我“推荐”了一个测试，也就是那个针对除法的测试（参考图6）。

图6 基于TIA自动生成的建议测试列表

     看！虽然现在有一个新Build出的计算器程序摆在了我面前，但我已不必象以往那样须要把上面所有4个测试都再跑一遍了，我只须再跑一遍其中那个被“株连”的就齐活了 ;)