EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品， /<k]mY cu
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美国SCI为世界薄膜度量系统和xxxx行业的领军者， n^Q-K}!T/
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其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 M9.FtQhK/
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1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件 h\4enu9[RL
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应用实例，目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。 U^kk0O T^
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2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求. 'u9y\vUy
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1.多层厚度（1? 到 250 micr*****） ) 3ZkKv;zY
2.折射率n A
p> H-/C
3.吸收系数k hX: yn:P~
4.双折射率 0 *]Z C'pm
5.能隙（Eg） Qx8O&C?Ti
6.表面粗糙度和损伤 usw(]CnH
7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式） zh5 ovA%
8.薄膜温度特性 1]&{6y
9.晶元曲率和薄膜耐压性 Qp-P[Tc
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应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。 {[bB$~7Eu
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： u17 9!
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 >6|Xvtf
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