LED晶片测试系统架构
1）、一个高精度2048像素线性CCD 矩阵式积分光谱分析仪.
2）、高精度控制板卡一套
3）、工业用计算机主机一台
4）、WindowsNT中文操作系统
2、晶片测试系统规格
1）、恒流源   I）      ± 1mA 精度:    0.03uA 　                                                                                                                                                                                                          
II）     ± 200mA    精度:    6uA
2）、恒压源   I）      20V  精度:　  0.30mV
II）     50V    精度:  0.75mV
   3）、测量光谱范围　200nm-1050nm（可见光及近似红外光）
　　　　4）、光学精度       0.3nm
5）、计算CIE1931克拉曼座标x,y, z光学解析精度±0.005
6）、计算CIE1960标准克拉曼尺度u,v ,w
7）、相关色温、纯度、亮度等计算
3、晶片测试系统测量参数
A、排向测试（Polority）---------------------------------0.00
B、正向电压测试（VF）----------------------------------0.00
C、反向电压测试（VR）----------------------------------0.00
D、正向电流测试（IF）------------------------------------0.00
E、反向电流测试（IR）------------------------------------0.0000
F、光强测试（IV）-------------------------------------------0.0
G、闸流测试（THY）----------------------------------------0.000
H、波长测试（λd）-------------------------------------------0.0
I、XYZ测试（XYZ）------------------------------------------0.000
J、色温（CCT）-------------------------------------------------0
K、纯度（PUR）-------------------------------------------------0.000
L、红外功率（IRIE）--------------------------------------------0.00
M、半波宽（DWL）----------------------------------------------0.0
N、峰值波长（PWL）---------------------------------------------0.0
4.晶片测试系统的运动图片.

5.手动晶片测试仪点动测试图