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      为实现十倍于USB2.0的传输速度，USB 3.0控制晶片必须使用更先进的制程来设计与制造，但这也造成USB 3.0的控制晶片对ESD的耐受能力快速下降。除此之外，USB 3.0会被大量用来传输影音资料，对资料传输容错率会有越严格的要求，使得使用额外的保护元件来防止ESD事件对资料传输的干扰变得很必要。除了传输速度的要求之外，另一个使用者最普遍的USB应用就是随插即用、随拔即关。然而这个热插拔动作却也经常是造成电子系统工作异常、甚至造成USB连接埠元件毁坏的元凶，因为如静电放电(ESD)等暂态杂讯就是来自这个热插拔动作。

        要用在USB3.0连接埠的ESD防护元件必须同时符合下面三项要求：

       {dy}、ESD防护元件本身的寄生电容必须要小，为不影响USB3.0 4.8Gbps的传输速率，其寄生电容必须小于0.3pF。

        第二、防护元件对ESD的耐受能力必须要高，最少要能承受IEC 61000-4-2接触模式8kV ESD的轰击。

        第三、也是最重要的一项要求，防护元件在ESD事件发生期间所提供的箝制电压必须要够低，不能造成传输资料的损坏。

      以上三项要求缺一不可，缺少了任何一个要项，USB3.0连接埠就无法被完善地保护。然而要同时符合以上三项要求的ESD防护元件，其本身的设计难度就相当高。

     晶焱科技拥有先进的ESD防护设计技术，特别针对USB3.0的防护需求，推出AZ1065系列的ESD防护元件。为避免防护元件的寄生电容影响USB3.0 4.8Gbps差动(Differential)讯号的高速传输，AZ1065的寄生电容已低于0.3pF。在极低的电容特性下，任一接脚在室温时仍皆可承受IEC 61000-4-2接触模式10kV ESD的轰击。最重要是，以相同寄生电容来比较，AZ1065拥有{zd1}的ESD箝制电压，可有效防止资料传输时被ESD事件所干扰，才能让拥有USB 3.0连接埠的电子系统有机会通过Class-A的IEC 61000-4-2系统级静电放电保护测试。利用传输线脉冲系统(TLP)测量AZ1065后，可以观察到如图一的ESD箝制电压特性。在IEC 61000-4-2接触模式6kV的ESD冲击下(TLP电流等效约为17A)，箝制电压仅有13.4V，将得以有效避免系统产品于静电测试时发生资料错误、当机甚至损坏的情况。