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ICP-OES选购经验
在原子元素分析中,应用最广的是光谱分析和原子发射光谱分析,而原子发射光谱一个很重要的方面就是电感耦合等离子体光源的应用,它的出现开辟了原子发射光谱仪新的里程碑。从目前分析状况看,二者在分析能力方面可谓平分秋色、各具特色。对于原子吸收光谱仪的已做过简单的讨论,在此再对电感耦合等离子体发射光谱仪的采购做些简单的讨论,希望对大家的采购能有点借鉴。

对于采购ICP-OES前应考虑的最基本的问题大家可以参考“原子吸收光谱仪采购浅谈”一文中的第2段描述,本文主要针对能够影响 ICP-OES分析性能的一些重要的部件做简单的讨论。

在采用ICP-OES分析中,影响其分析性能的主要有高频发生器、分光系统、等离子体观测方式、进样系统、检测系统和软件平台,因此本文的讨论主要是从这几个方面展开。

1、 高频发生器

高频发生器是ICP-OES的基础核心部件,是为等离子体提供能量的,通过工作线圈给等离子体输送能量,并维持ICP光源稳定放电,要求其具有高度的稳定性和不受外界电磁场干扰。从功率输出方式上可以分为自激式和它激式两类:自激式高频发生器(VARIAN、PE、GBC、JY、LEEMAN、斯派克、及国内厂家生产的ICP-OES均使用这种)能将稳定的直流电流变成具有一定周期的交流电流后,不需要外加交变信号控制就可以产生交变输出。该RF具有线路简单、造价低廉,调试容易,当振荡电路参数变化时能自动补偿阻抗的少量变化等优点。缺点是功率输出效率低,振荡频率稳定度不高;它激式发生器(目前掌握的资料只有公司的仪器)是由石英晶体控制频率,必须外加交换信号才能产生交变输出,具有功率输出的效率高,振荡频率稳定,易实现频率自动控制等优点,缺点是线路复杂、成本高。

目前商品化的仪器的振荡频率主要使用27.12MHz和40.68MHz,理论上讲振荡频率大的,维持等离子体的功率相对就小一些,冷却气用量相对少一些,产生的趋肤效应也强,便于形成等离子体中心进样通道(一般不会引起等离子体的熄灭),但在实际使用商品化仪器分析时,27.12MHz和40.68MHz其分析性能并没有特别明显的差别,特别是在检出限和测定精度方面几乎没有差异。

高频发生器的另一个指标就是其功率,因为功率是影响发射线强度和背景强度的主要因素。采购时主要考虑其大小可调性和分析样品的性质,一般范围至少也在800-1500W,对于普通水样品类一般采用800-1200W基本可以满足正常分析需要,而以有机物溶剂为基体的样品分析一般需要较高的功率来维持等离子体的正常运行。其实作为各种ICP-OES的光源,目前的发展技术应该是比较成熟的,在采购时主要考虑一下下列指标就可以了:反射功率至少要小于10W,功率波动不能大于0.1%(假如输出功率有0.1%的漂移,发射强度就能产生超过1%的变化,目前xx仪器的这个方面做的是比较好的,有的可以低1-2个数量级),频率稳定性要优于0.1%。

2、 等离子体观测方式及尾焰处理技术

目前主要使用轴向、径向、双向观测方式,在整体思路设计上各有特色和重点,不过双向观测融合了轴向、径向的特点,具有一定的灵活性,增加了测定复杂样品的适应性。

所谓径向观测即垂直观测,其分析性能在测定易受易电离元素(如:碱金属 、碱土金属)干扰和基体效应影响的元素时要远远高于水平观测,且其分析{zj0}观察高度的选择余地也要比水平观测好,但由于在等离子体发射光谱中,其发射信号的强度主要取决于光源通道的长度,而垂直观测受狭缝高度的限制,其光源通道的长度远比水平观测有限,从而造成其检出限相对于水平观测高倍数,同时采用垂直观测时检测器不可避免地接受到环形区较强的辐射背景,降低了测定时的信背比。

而水平观测可以接受比较强的发射信号,保证较低的检出限和背景强度(即背景等效浓度比较小),具有较高的信背比及较低检出限的优点。但由于炬管是水平放置,外层石英管的延伸部分要包含整个等离子体焰炬,容易使炬管沾污。同时,由于产生的热量不能及时排除,RF功率也不能太高。

为了弥补上述两种观测方式各自的不足,仪器厂家开发了双向观测技术(如:热电、利曼等公司的产品),他们在水平观测的基础上通过平面反射镜来实现垂直观测功能,比较好地融合了垂直和水平观测的优点,是一大发展方向。

对于采用水平炬管,需要进行等离子体尾焰xx技术来减少分析过程中尾焰背景的影响,目前商品化的仪器主要通过加长炬管、冷锥接口、空气吹扫切割来实现。采用加长炬管(如热电)主要是考虑加大进样通道,集中热流和增强原子化,增加等离子体的惰性气氛,尽量减少空气分子背景的影响;冷锥接口(如VARIAN的700系列等)是在加长炬管的基础上,增加了水冷却取样锥,其xx尾焰xx,减少了分子背景产生的结构背景,线性范围较好、等离子体稳定。但对于高盐类或有机样品分析会造成锥口的,需要及时清洗维护;空气吹扫切割(如PE各系列、LEEMAN PRODIGY)是通过空压机产生的高速气流来切割掉尾焰,其尾焰xx的稳定性和xx程度受切割气流的影响,特别是由于采用了空气切割,对分析紫外波长的元素灵敏度有损失。

3、 分光系统

分光系统也是采购考虑的重点对象,直接影响ICP-OES的分析性能,一般要求其波长范围至少在180-870nm(这个主要根据分析元素的需要来确定,对于测定紫外波长的元素,可以考虑采购分析元素影响的波长范围),由于测定的稳定性、重复性和对紫外波长测定的灵敏度,一般对光室都采用驱气或真空方式的恒温保护措施,光室是否进行特殊处理将影响光谱仪开机预热时间的长短和测定的精密度,至于分光系统中其他的色散元件在“原子吸收光谱仪采购浅谈”一文中已做了简单的探讨,在此主要针对目前各厂家比较常用的做个介绍。

3.1平面光栅光谱仪:主要用于单道扫描ICP-OES上,目前大部分厂家的顺序扫描仪器都采用这种类型,如:VARIAN Liberty、海光SPS8000(使用两个光栅,其中凹面光栅做前置光谱分离,平面光栅做主单色器)、JY-ULTIMA2,比较特别的是GBC Integra XL,采用双光路即两个单色器。

作为顺序扫描ICP-OES,是按顺序一个一个地测定元素的,一般采用步进马达或电磁驱动转动光栅(还有一种是转动检测器的,如LEEMANPROFILE、采用中阶梯光栅),在远离分析波长时采用高速转动,接近分析波长后,慢慢跨越并超过波峰位置,同时进行积分来测定的。由于具有不可避免的机械和热不稳定性,不能直接转到波峰进行强度测定,寻峰扫描是在一定波长范围内进行的,测定信号必须要高出背景信号数倍才能出峰,在测定痕量物质或有较大邻近线干扰时可能出现误寻峰的问题。与目前所谓的“全谱”相比,顺序扫描具有很大的价格优势和测定灵活性,从理论上讲可以用于元素所有谱线的分析,适合于基体复杂多变和非样品的分析,更适合做仪器分析研究工作的人员。当然它也有一个弱点就是分析时间相对较长、氩气用量大,因此这两个参数也是考查单道扫描ICP的重要指标。目前对于元素分析时间并没有一个统一的认识,建议采购时作为临时考查对象。计量要求:平面光栅光谱仪波长示值误差在±0.05nm,波长重复性不大于0.01nm,对于实际分辨率要求其能xx分开Fe263.132nm和Fe263.105nm或者能分开Hg313.155nm和Hg313.184nm即可。

3.2、凹面光栅光谱仪:此类型光谱仪以前主要用于制造多通道ICP发射光谱,也属于多元素同时测定类型,结构简单,使用光学元件少、光栅本身兼色散、准直、成像功能,不存在色差,但像散比较严重。凹面光栅光谱仪没有使用反射镜,光损失小,在短波方向进行准确分析是它的特点(如:斯派克的仪器可以测定130-190nm),可以用于测定波长小于190nm的元素,但是由于其狭缝、通道有限和固定,因此限制了分析的灵活性和同时测定多元素的数目。

3.3、中阶梯光栅光谱仪:中阶梯光栅光谱仪是采用较低色散的棱镜或其他色散元件作为辅助色散元件,安装在中阶梯光栅的前或后来形成交叉色散,获得二维色散图像。它主要依靠高级次、大衍射角、更大的光栅宽度来获得高分辨率的,这是目前较高水平光谱仪所用的分光系统,配合CCD、SCD、CID检测器可以实现“全谱”多元素“同时”分析。也有采用中阶梯光栅的顺序扫描的光谱仪,如:LEEMAN PROFILE。

相对于平面光栅,中阶梯光栅有很高的分辨率和色散率,由于减少了机械转动不稳定性的影响,其重复性、稳定性有很大的提高。而相对于凹面光栅光谱仪,它在具备多元素分析能力的同时,可以灵活地选择分析元素和分析波长。目前各厂家的“全谱”仪器基本都采用此类型,只是光路设计和使用光学器件数量上略有不同。Thermo IRIS、INTREPIDⅡ的光路是先通过棱镜后再用光栅色散;VARIAN700系列的光路是先通过棱镜再到光栅后再通过棱镜形成二维色散;而Leeman Prodigy的光路是采用两个棱镜在光栅前后分别色散的;PE OPTIMA则采用两个光栅、两个检测器,经{dy}个光栅分光后,光路分紫外和可见两路,紫外光路再投到第二个光栅上,而可见部分经过棱镜分光,{zh1}到达SCD检测器,整个光路系统使用了10多个光学器件,是目前所见使用最多光学器件的仪器。

对于中阶梯光栅光谱仪光学分辨率要求在200nm处至少小于0.009nm(如:LEEMAN Prodigy、Thermo IRIS、INTREPIDⅡ为小于0.005nm、VARIAN700小于0.007nm、PE OPTIMA4000/5000为小于0.006nm、2000为小于0.009nm),当然上述资料是各厂家的宣传资料,实际情况大家可以考察,看能否xx分辨开Cu213.598nm和P213.618nm两条谱线,或者用Mo的半峰宽来考察实际分辨率。光学系统还有一个参数那就是杂散光,一般要求在As193.696nm 处用1000ppm钙测定其背景等效浓度(BEC)要小于3ppm(在这方面Thermo、LEEMAN、VARIAN、PE的指标都表现得很好)。

ICP样品制定

样品制定分析方案
1)确定样品是否适用于ICP分析。
ICP主要以常量和微量分析为主,在没有基体干扰的情况下,样品溶液中元素的含量一般不应小于5*DL(检出限),在有基体干扰的情况下,样品溶液中元素的含量一般不应小于5*5*DL。
2)确定样品分解方法(溶样方法)
确保所测的元素能够xx分解,并溶解在溶液中。
尽可能用HNO3或HCL分解样品。
尽量不用H2SO4和H3PO4,会降低雾化效率。
如果用HF酸的话,一定要赶尽,以避免损坏雾化器和影响B、Na、Si、Al等元素的测定。
3)配制工作曲线(混标)
浓度之间相差2¬—5倍
一般用2—3点
两个常见错误: a).所有分析元素的浓度都一致, 这样省事, 但不, 应该根据不同元素的浓度范围, 制定其相应的溶液浓度。b).标准曲线点与点之间相隔太近, 如2, 4, 6, 8…,xx没有必要。
4)样品准备:样品必须消解彻底,不能有混浊, 否则必须先用滤纸过滤, 但不要抽滤对于标准雾化器,样品溶液中固溶物含量要求≤1.0%

1、影响等离子体温度的因素有:
载气流量:流量增大,中心部位温度下降;
载气的压力:激发温度随载气压力的降低而增加;
频率和输入功率:激发温度随功率增大而增高,近似线性关系,在其他条件相同时,增加频率,放电温度降低;
第三元素的影响:引入低电离电位的释放剂(如T1)的等离子体,电子温度将增加。
2、电离干扰的xx和抑制
原子在火焰或等离子体的蒸气相中电离而产生的干扰。它使火焰中分析元素的中性原子数减少,因而降低分析信号。在和分析试样中加入过量的易电离元素,使火焰或等离子体中的自由电子浓度稳定在相当高的水平上,从而抑制或xx分析元素的电离。此外,由于温度愈高,电离度愈大,因此,降低温度也可减少电离干扰。
3、试剂酸度对ICP-AES法的干扰效应主要表现在哪些方面?
提升率及其中元素的谱线强度均低于水溶液;随着酸度增加,谱线强度显著降低;各种无机酸的影响并不相同,按下列顺序递增:HCl   HNO3   HClO4   H3PO4   H2SO4;谱线强度的变化与提升率的变化成正比例。
4、ICP-AES法中的光谱干扰主要存在的类型
谱线干扰;谱带系对分析谱线的干扰;
连续背景对分析谱线的干扰;
杂散光引起的干扰。
5、ICP-AES法分析中灵敏度漂移的校正
在测定过程中,气体压力改变会影响到原子化效率和基态原子的分布;另外,毛细管阻塞、废液排泄不畅,会使溶液提升量和雾化效率受到影响;以及电压变化等诸多因素都会使灵敏度发生漂移,其校正方法可每测10个样品加测一个与样品组成接近的质控样,并根据所用仪器的新旧程度适当缩短标准化的时间间隔。
6、ICP分析中如何避免样品间的互相沾污?
测量时,不要依次测量浓度悬殊很大的样品,可把浓度相近的样品放在一起测定,测定样品之间,应用蒸馏水或溶剂冲洗之。
7、ICP-AES法中,用来分解样品的酸,必须满足的条件
尽可能使各种元素迅速、xx分解;所含待测元素的量可忽略不计;分解样品时,待测元素不应损失;与待测元素间不形成不溶性物质;测定时共存元素的影响要小;不损伤雾化器、炬管等。
8、在ICP-AES法中,为什么必须特别重视标准溶液的配置?
不正确的配置方法将导致系统偏差的产生;介质和酸度不合适,会产生沉淀和浑浊;元素分组不当,会引起元素间谱线干扰;试剂和溶剂纯度不够,会引起空白值增加、检测限变差和误差增大。
9、配制ICP分析用的多元素贮备标准溶液的注意事项
溶剂用高纯酸或超纯酸;用重蒸的离子交换水;使用光谱纯、高纯或基准物质;
把元素分成几组配制,避免谱线干扰或形成沉淀。
10、当采用有机试剂进行ICP分析时,有哪些特殊要求?
高频功率一般应高于水溶液试样;冷却气流量要增高,载气流量要减少,同时应通入较高流量的辅助气;对炬管的结构和安装也有某些特殊要求;多采用链状结构的有机溶剂作稀释剂。
11、什么叫稀释剂?ICP-AES法用的稀释剂有哪些要求?
一般粘度大的试样,用气动雾化进样较难,常用低粘度的有机溶剂去稀释试样,这种有机溶剂称为稀释剂。对其要求有:①粘度较低;②分子中的碳原子数较少;③有中等的挥发性;④不产生或少产生有毒气体;⑤ 允许有较高的进样量而不致使等离子体熄灭;⑥在炬管口产生的碳沉积较少。
12、稀释剂对ICP分析有哪些影响?
稀释剂的粘度对雾化进样、速率产生影响;密度、粘度和表面张力影响形成雾滴的初始致敬;沸点影响雾滴的挥发及进入ICP通道的有机溶剂蒸发量,从而影响ICP的稳定性。

1、影响等离子体温度的因素有:
载气流量:流量增大,中心部位温度下降;
载气的压力:激发温度随载气压力的降低而增加;
频率和输入功率:激发温度随功率增大而增高,近似线性关系,在其他条件相同时,增加频率,放电温度降低;
第三元素的影响:引入低电离电位的释放剂(如T1)的等离子体,电子温度将增加。
2、电离干扰的xx和抑制
原子在火焰或等离子体的蒸气相中电离而产生的干扰。它使火焰中分析元素的中性原子数减少,因而降低分析信号。在和分析试样中加入过量的易电离元素,使火焰或等离子体中的自由电子浓度稳定在相当高的水平上,从而抑制或xx分析元素的电离。此外,由于温度愈高,电离度愈大,因此,降低温度也可减少电离干扰。
3、试剂酸度对ICP-AES法的干扰效应主要表现在哪些方面?
提升率及其中元素的谱线强度均低于水溶液;随着酸度增加,谱线强度显著降低;各种无机酸的影响并不相同,按下列顺序递增:HCl   HNO3   HClO4   H3PO4   H2SO4;谱线强度的变化与提升率的变化成正比例。
4、ICP-AES法中的光谱干扰主要存在的类型
谱线干扰;谱带系对分析谱线的干扰;
连续背景对分析谱线的干扰;
杂散光引起的干扰。
5、ICP-AES法分析中灵敏度漂移的校正
在测定过程中,气体压力改变会影响到原子化效率和基态原子的分布;另外,毛细管阻塞、废液排泄不畅,会使溶液提升量和雾化效率受到影响;以及电压变化等诸多因素都会使灵敏度发生漂移,其校正方法可每测10个样品加测一个与样品组成接近的质控样,并根据所用仪器的新旧程度适当缩短标准化的时间间隔。
6、ICP分析中如何避免样品间的互相沾污?
测量时,不要依次测量浓度悬殊很大的样品,可把浓度相近的样品放在一起测定,测定样品之间,应用蒸馏水或溶剂冲洗之。
7、ICP-AES法中,用来分解样品的酸,必须满足的条件
尽可能使各种元素迅速、xx分解;所含待测元素的量可忽略不计;分解样品时,待测元素不应损失;与待测元素间不形成不溶性物质;测定时共存元素的影响要小;不损伤雾化器、炬管等。
8、在ICP-AES法中,为什么必须特别重视标准溶液的配置?
不正确的配置方法将导致系统偏差的产生;介质和酸度不合适,会产生沉淀和浑浊;元素分组不当,会引起元素间谱线干扰;试剂和溶剂纯度不够,会引起空白值增加、检测限变差和误差增大。
9、配制ICP分析用的多元素贮备标准溶液的注意事项
溶剂用高纯酸或超纯酸;用重蒸的离子交换水;使用光谱纯、高纯或基准物质;
把元素分成几组配制,避免谱线干扰或形成沉淀。
10、当采用有机试剂进行ICP分析时,有哪些特殊要求?
高频功率一般应高于水溶液试样;冷却气流量要增高,载气流量要减少,同时应通入较高流量的辅助气;对炬管的结构和安装也有某些特殊要求;多采用链状结构的有机溶剂作稀释剂。
11、什么叫稀释剂?ICP-AES法用的稀释剂有哪些要求?
一般粘度大的试样,用气动雾化进样较难,常用低粘度的有机溶剂去稀释试样,这种有机溶剂称为稀释剂。对其要求有:①粘度较低;②分子中的碳原子数较少;③有中等的挥发性;④不产生或少产生有毒气体;⑤ 允许有较高的进样量而不致使等离子体熄灭;⑥在炬管口产生的碳沉积较少。
12、稀释剂对ICP分析有哪些影响?
稀释剂的粘度对雾化进样、速率产生影响;密度、粘度和表面张力影响形成雾滴的初始致敬;沸点影响雾滴的挥发及进入ICP通道的有机溶剂蒸发量,从而影响ICP的稳定性。
1、影响等离子体温度的因素有:
载气流量:流量增大,中心部位温度下降;
载气的压力:激发温度随载气压力的降低而增加;
频率和输入功率:激发温度随功率增大而增高,近似线性关系,在其他条件相同时,增加频率,放电温度降低;
第三元素的影响:引入低电离电位的释放剂(如T1)的等离子体,电子温度将增加。
2、电离干扰的xx和抑制
原子在火焰或等离子体的蒸气相中电离而产生的干扰。它使火焰中分析元素的中性原子数减少,因而降低分析信号。在和分析试样中加入过量的易电离元素,使火焰或等离子体中的自由电子浓度稳定在相当高的水平上,从而抑制或xx分析元素的电离。此外,由于温度愈高,电离度愈大,因此,降低温度也可减少电离干扰。
3、试剂酸度对ICP-AES法的干扰效应主要表现在哪些方面?
提升率及其中元素的谱线强度均低于水溶液;随着酸度增加,谱线强度显著降低;各种无机酸的影响并不相同,按下列顺序递增:HCl   HNO3   HClO4   H3PO4   H2SO4;谱线强度的变化与提升率的变化成正比例。
4、ICP-AES法中的光谱干扰主要存在的类型
谱线干扰;谱带系对分析谱线的干扰;
连续背景对分析谱线的干扰;
杂散光引起的干扰。
5、ICP-AES法分析中灵敏度漂移的校正
在测定过程中,气体压力改变会影响到原子化效率和基态原子的分布;另外,毛细管阻塞、废液排泄不畅,会使溶液提升量和雾化效率受到影响;以及电压变化等诸多因素都会使灵敏度发生漂移,其校正方法可每测10个样品加测一个与样品组成接近的质控样,并根据所用仪器的新旧程度适当缩短标准化的时间间隔。
6、ICP分析中如何避免样品间的互相沾污?
测量时,不要依次测量浓度悬殊很大的样品,可把浓度相近的样品放在一起测定,测定样品之间,应用蒸馏水或溶剂冲洗之。
7、ICP-AES法中,用来分解样品的酸,必须满足的条件
尽可能使各种元素迅速、xx分解;所含待测元素的量可忽略不计;分解样品时,待测元素不应损失;与待测元素间不形成不溶性物质;测定时共存元素的影响要小;不损伤雾化器、炬管等。
8、在ICP-AES法中,为什么必须特别重视标准溶液的配置?
不正确的配置方法将导致系统偏差的产生;介质和酸度不合适,会产生沉淀和浑浊;元素分组不当,会引起元素间谱线干扰;试剂和溶剂纯度不够,会引起空白值增加、检测限变差和误差增大。
9、配制ICP分析用的多元素贮备标准溶液的注意事项
溶剂用高纯酸或超纯酸;用重蒸的离子交换水;使用光谱纯、高纯或基准物质;
把元素分成几组配制,避免谱线干扰或形成沉淀。
10、当采用有机试剂进行ICP分析时,有哪些特殊要求?
高频功率一般应高于水溶液试样;冷却气流量要增高,载气流量要减少,同时应通入较高流量的辅助气;对炬管的结构和安装也有某些特殊要求;多采用链状结构的有机溶剂作稀释剂。
11、什么叫稀释剂?ICP-AES法用的稀释剂有哪些要求?
一般粘度大的试样,用气动雾化进样较难,常用低粘度的有机溶剂去稀释试样,这种有机溶剂称为稀释剂。对其要求有:①粘度较低;②分子中的碳原子数较少;③有中等的挥发性;④不产生或少产生有毒气体;⑤ 允许有较高的进样量而不致使等离子体熄灭;⑥在炬管口产生的碳沉积较少。
12、稀释剂对ICP分析有哪些影响?
稀释剂的粘度对雾化进样、速率产生影响;密度、粘度和表面张力影响形成雾滴的初始致敬;沸点影响雾滴的挥发及进入ICP通道的有机溶剂蒸发量,从而影响ICP的稳定性。


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