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dft的三种的故障模型。
1.固定故障。也称电压故障（stuck fault）。即晶体管的一端固定的不期望的链接到VDD或者VSS，从而导致布尔错误。
2.电流故障。current fault。这些故障容易导致高的漏电流，不会导致布尔错误，但是会造成器件的过早失效甚至有源短路。
3.延迟故障。包括跳变延迟故障和路径延迟故障。

扫描链工作过程。分为四步：
1.串行输入
2.并行测量
3.平行捕获
4.串行输出

DFT Compiler添加扫描链过程：
1.test configure
2.scan configure
3.dft configure
4.specify
5.preview
6.synthize

开始test configure。
test configure主要用来配置一些测试相关的时钟，输入延迟，双向延迟，测试选通时间。

上图配置tcl中如下设置：
set test_default_period 100
set test_default_delay 50
set test_default_bidir_delay 55
set test_default_strob 90

二，scan configure。配置扫描链的一些属性。
命令和参数如下：解释一些常用的
set_scan_configuration
[-add_lockup true | false]
[-chain_count integer
| -max_length integer_or_default
| -exact_length integer_or_default
| -count_per_domain integer_or_default]
[-clock_mixing no_mix | mix_edges | mix_clocks | mix_clocks_not_edges]
[-create_dedicated_scan_out_ports true | false]
[-internal_clocks single | none | multi]
[-insert_terminal_lockup true | false]
[-lockup_type latch | flip_flop]
[-mix_internal_clock_driver true | false]
[-partition vertical | horizontal]
[-style multiplexed_flip_flop | clocked_scan | lssd | aux_clock_lssd | combinational | none]
[-exclude_elements exclude_list]
[-voltage_mixing true | false]
[-power_domain_mixing true | false]
[-test_mode mode_name]
[-domain_based_scan_enable true | false]
[-pipeline_scan_enable true | false]
[-pipeline_fanout_limit integer_or_default]
[-reuse_mv_cells control_reuse_of_existing_MV_isolation_and_level-shifter_cells]
[-create_test_clocks_by_system_clock_domain create_test_clock_from_system_clock]
[-replace replace]
[-hierarchical_isolation hierarchical_isolation ]
[-shared_scan_in number_of_shared_pin_count]
[-preserve_multibit_segment multibit_segment]
[-begin_and_end_with_rising_edge chain_terminals_optimization]
1. set_scan_config -style multiplexed_flip_flop 设置扫描的链中的触发器类型，一般选择多路复用触发器。低功耗设计中使用门控扫描触发器。
2. set_scan_config -clock_mixing no_mix dc默认的是每个时钟域产生一个扫描链。即当你声明好一个scan_path（from si1 to si2),dc会将同一个时钟域的同类型触发器链接到si1到si2上，如果类型不同，还会自动产生一条扫描链。no_mix意思是扫描链上的触发器必须是同类型的：同时钟，同边沿。
如下图：三个时钟域，想产生2条扫描链，使用no_mix配置。但是dc会生成3三条扫描链。

同样mix_edges表示一个扫描链上只允许是同一个时钟的触发器，包括上升沿出发和下降沿触发的。

而mix_clocks表示扫描连上允许不同时钟，不同边沿驱动的触发器。

一般选用mix_clocks，扫描链容易达到平衡。
set_scan_config -preserve_multibit_segment 使用指定由create_multibit -name x {xx}产生的multibit的链接方式。false，表示multibit是分散的。true表示同步化的。
set_scan_config -exclude_elements 扫描链中不包含指定单元。
同样也可以使用set_san_element false xxx指定某个单元不进行扫描链插入。
set_scan_config -create_dedicated_scan_out_ports 是否根据声明的ScanDataOut产生扫描链
set_scan_config -add_lockup 是否添加lockup cell。同一个扫描链中可能有不同功能时钟驱动的触发器，如上面clock_mixing选择mix_clocks，那么相邻2个scan ff需要加入lockup cell。如下图：如果没有加lockup cell同时clk1和clk2的波形如后面一个，那么就有可能导致后面一个触发器捕获不到数据。加入了lockup cell无论哪种情况都可以捕获数据

set_scan_config -insert_terminal_lockup true | false是否在扫描链结尾插入lockup cell
set_scan_config -lockup_type latch | flip_flop lockup cell类型，一般选择latch，terminal lockup可以选flip flop
set_scan_config -inter_clcok multi 指导工具将选择时钟或者多驱动时钟和顶层时钟分离开来。一般用于将clock_mixing设置mix_clocks的时候。
因为当使用mix_clocks的时候,相邻2个scan ff的功能时钟是不一样的，如果后一个是选择时钟，或者多驱动时钟。那么在同一个test clock下会造成hold violation。如下图：

使用mix_clocks类型的扫描链，会产生下面的扫描链：由于reg2的test clock经过了一个选择器，会造成hold violation。

如果设置了add_lockup true2个scan ff之间会加入lockup，则不会产生时序问题。

如果设置inter_clock 为multi则会将2个scan ff放到2个扫描链中。也不会产生时序问题。

set_scan_config -max_length integer_or_default 设置扫描链长度
set_scan_config -chain_count 扫描链个数