从JJ那里订的塑封电阻今天收到了，找出买来就没怎么出力的数字电桥测量阻值，想要测试电阻是效率。测试结果见表一。测试所用设备：LW-2811CLCR数字电桥，环境温度：12℃

表一：

从表一可以看出，10k电阻数量比较大，而测试结果离散性非常小，就是{zh1}一位在0和2之间跳动，说明这批电阻的精度和准度超过了我的电桥的测试能力。那么为什么2k525的测量结果与标称值相差那么大呢？是测试设备的误差还是这几个电阻老化严重？再看5k000的测量结果相差很少，就拿出两个2k525串联，测量结果为5.050k，证明2k525测量结果与标称值的偏离是电桥的测量误差。

通过测量规律来看高值偏低、低值偏高，根据y=kx+b的理想公司，怀疑b值引入误差，将表笔再次短接，显示为零。按清零键，再次测试2k525，结果不变，突然想起JJ送我的两个0.047Ω电阻，标称精度为5%，正可用来测量电桥的零点灵敏阈值，神了，测量显示0.047Ω，证明不是零值偏差和零值灵敏度的问题。而且测量结果比较准确，初步得出结论：这个电桥在低值正常，中值正常，高值偏低，2.5k处的误差却出奇的大。是否超出仪器的误差设计范围呢？找到说明书，标称误差优于0.25%，显然只有2.5k处严重超差，那就要怀疑其他未测试到的点的测量误差是否比2.5k处还要恶劣，恶劣到什么程度呢？

因为阻值种类有限，该怎么测量呢？既然5k测量结果是准确的，就以5k为基础，找来5个1k的金属膜电阻串联，测得结果4.993k，因为接近5k，认为4.993k是这五个电阻串联的真值。然后分别测量5个电阻，结果见表二。

表二：5个1k电阻的分别测量结果

将表二的数据相加得到5个电阻在1k处测量值5.0189，则电桥在1k处的测量误差为：（5.0189-4.993）/4.993×100=0.518%

然后将1k处的测量值修正，作为真值，测量100Ω处的误差，即用10个标称100Ω的金属膜电阻串联测得结果1.0021k，然后单独测量每个电阻，结果见表三

首先把10个100Ω串联结果1.0021k进行修正，

求得真值为1.0021k/（1+0.518%）=0.99694k

然后将10个100Ω电阻分别测量结果累加得到电桥在100Ω处的测量值：996.14Ω

则电桥在100Ω处的测量误差为：

（996.14-996.94）/996.94×{bfb}=-0.08%

表三：10个100Ω电阻的分别测量结果和递加串联结果

注：递加串联测量值是所占的表格宽度对应序号的电阻串联

{zh1}以100Ω处为基础，求得各电阻的真值，根据递加串联测量值分别求得电桥在200～1000Ω处的测量误差结果见表4

因为测量和计算同步进行，用时较多，所以{zh1}又一次测量10个电阻串联结果1.0021k，和开始测量时一致，说明在100～900Ω的整个测量过程中电阻的稳定性误差和电桥本身的漂移都没有影响测量结果。

表四：电桥在100～1000Ω各点处的测量误差

按照相同理论可以测试100k以上各测量点的测量误差。干到这里，也累了。以后有时间再测吧。

据此，只要你有一个足够精密的电阻，就能对你的高位电阻表进行校准，特将此法贡献朋友，不值一哂。见笑见笑。