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传感器技术有两大问题需要解决：{dy}个问题是可能针对满刻度输出的输出电压值范围。例如，标称满刻度输出电压为100mV的传感器可能有这样一个指标，它表明了这种满刻度输出低至50mV和高至150mV的可能性。 如果满刻度传感器输出低于标称值，ADC的满刻度范围就不会使用。如果满刻度传感器输出超过标称值，ADC输出将在传感器输出达到其满刻度之前先达到ADC满刻度输出值。此外，如果传感器输出或放大器本身有漂移，那么在读数时将存在某种不确定性和不xx性。幸运的是，目前的传感器即使有时间漂移也非常小，仔细选择放大器可以使放大器漂移最小。因此，在制造期间和/或系统上电时，电路增益可以一次调整到位。 达到这个目的的方法之一是使用数模转换器(DAC)调整ADC参考电压VREF，以补偿的满刻度误差，使用另一个DAC调整VOFF以补偿偏移误差。双通道DAC，如国半的DAXxx2S085（其中“xx”可以是08、10或12，代表DAC分辨率），将是这种应用的理想之选。另外一种方法，是在传感器输出被数字化后，用软件校准这些误差。

每二个是具有输出偏移，这个偏移可以VOFF点加合适的电压进行调整，或者在传感器输出被数字化后用软件xx。如果用软件处理，那么VOFF就变成0伏。用软件xx偏移的问题在于，限制了可测量的传感器范围。如果偏移是正的，将限制可以测量的{zd0}传感器输出，因为放大的传感器输出可能比期望的更早达到ADC满刻度值。如果偏移是负的，将无法xx测量很小的传感器输出电平，因为在超过放大的偏移值之前，ADC输出代码不会高过零值。