【中文篇名】 | 半导体探测器金分析仪 |
【作者】 | 陈致芬; |
【文献出处】 | 有色金属(矿山部分) , Nonferrous Metals(Mining), 编辑部邮箱 1981年 03期 期刊荣誉:ASPT来源刊 CJFD收录刊 |
【中文关键词】 | 多元素快速分析; 闪烁探测器; 八十年代; 荧光分析仪; 重大发展; 半导体探测器; 矿用; 放射性同位素; 贫化损失; 能量分辨率; |
【摘要】 | <正> 矿用半导体探测器金分析仪的出现,是八十年代手提式放射性同位素x射线荧光分析仪(简称PIF仪)的一个重大发展。在矿山的勘探和开采过程中,为了提高采掘效率、减少矿石的贫化损失,就地进行矿石多元素快速分析,已提到日程上了。然而常用的矿用PIF仪是采用能量分辨率较低的闪烁探测器或正比计数器做成探头,一般只能进行单元素测量,其灵敏度也受到很大限制。正> |
【DOI】 | CNKI:SUN:YSKU.0.1981-03-032 |
【更新日期】 | 2006-11-08 |
【正文快照】 | 矿用半导体探测器金分析仪的出现,是八十年代手提式放射性同位素x射线荧光分析仪(简称PIF仪)的一个重大发展。在矿山的勘探和开采过程中,为了提高采掘效率、减少矿石的贫化损失,就地进行矿石多元素快速分析,已提到日程土了。然而常用的矿用PIF仪是采用能量分辨率较低的闪烁探测 |