| 【中文篇名】 | 半导体探测器金分析仪 |
| 【作者】 | 陈致芬; |
| 【文献出处】 | 有色金属(矿山部分) , Nonferrous Metals(Mining), 编辑部邮箱 1981年 03期 期刊荣誉：ASPT来源刊 CJFD收录刊 |
| 【中文关键词】 | 多元素快速分析; 闪烁探测器; 八十年代; 荧光分析仪; 重大发展; 半导体探测器; 矿用; 放射性同位素; 贫化损失; 能量分辨率; |
| 【摘要】 | <正> 矿用半导体探测器金分析仪的出现,是八十年代手提式放射性同位素x射线荧光分析仪(简称PIF仪)的一个重大发展。在矿山的勘探和开采过程中,为了提高采掘效率、减少矿石的贫化损失,就地进行矿石多元素快速分析,已提到日程上了。然而常用的矿用PIF仪是采用能量分辨率较低的闪烁探测器或正比计数器做成探头,一般只能进行单元素测量,其灵敏度也受到很大限制。 |
| 【DOI】 | CNKI:SUN:YSKU.0.1981-03-032 |
| 【更新日期】 | 2006-11-08 |
| 【正文快照】 | 矿用半导体探测器金分析仪的出现,是八十年代手提式放射性同位素x射线荧光分析仪(简称PIF仪)的一个重大发展。在矿山的勘探和开采过程中,为了提高采掘效率、减少矿石的贫化损失,就地进行矿石多元素快速分析,已提到日程土了。然而常用的矿用PIF仪是采用能量分辨率较低的闪烁探测 |
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