注意: 并不是所有JEOL的产品都适用于任何国家。如果想了解适合于本国的有关JEOL产品的具体信息和详情，请与当地 联系，谢谢。
电脑控制、WD/ED 组合使用系统，开启了极微分析领域的新大门
以场发射 (FE) 电子枪为特色的JEOL电子探针显微分析仪 EPMA，带来了表面分析世界的革命, 现在新一代产品 FE-EPMA又横空问世。JXA-8530F在继承了JXA-8500F的强力硬件―包括 FE 电子枪、电子光学系统和真空系统的同时，采用电脑操作进行数据的采集和分析，实现了极微小区域的分析。友好的PC控制操作环境，使得在极高的放大倍数下能够便利地进行快速、简捷的分析。二次电子的分辨率为3nm。
- 快速启动
- 用户菜单
- 点分析
- 实时显示重叠的X-射线图像(WDS)
- EDS 谱图成像
- 新开发的、用于极轻元素分析的分光晶体
