815 KVP表及曝光时间表（电压、曝光时间表）
     产地：美国ECC

    北京华瑞森科技发展有限公司，北京东方圆通科技发展有限公司中国区域销售：美国Ecc公司 Model 815 型x射线kvp表/暴露时间测量表，它是测量钨发射出来的x射线的{zd0}或峰值输出电压的。测量范围：45 -125 kV，精度：2% +/- 1 kV, 在 25 至 100 mA的时候。尺寸：150 x 120 x 58.5 mm ，重量：0.7 kG (1.5 lb)

        Ecc Model 815是一个专门为个人测量x射线强度的稳定，数字仪器，这个仪器不仅仅用在x射线加速电压，而且用在测量暴露时间长短上。 两种功能在仪器上可以kv的形式检查。
一般操作说明
开关设置
为了保持操作简单和直接明了，仪器本身只有两个开关在前面板。
开/关 按钮
开/关 按钮
开/关按钮是用来开关仪器的，开关是鲜艳的绿色，当仪器开着的时候它的灯将变为亮绿，当仪器不用的时候记得关闭按钮以便保存电池电量。
调节开关
调节开关有两个功能：
1， 最初开关打开，仪器转换到“高分辨率”模式。
2， Kvp读数得到后，按下这个调节开关将提供额外信息。
一， 高分辨率/高速度调节模式
当仪器{dy}次打开时，他上面会提示“通用”（normal）或“高速度”（High Speed model）模式，当使用“通常”模式时815表测量ｘ射线时间为100ｍｓ（0.1秒）按下按钮一次将会使仪器处于“高分辨率”模式（High　Resolution）下，ｘ射线暴露取值时间不少于200ms（0.2秒）当要使用高速度模式（High Speed model）时ｘ射线暴露时间至少要100ms（1/10秒）当在高分辨率模式下使用仪表时，暴露时间必须达到至少200ms（0.2秒）
当仪表设置在高分辨率模式下时，他将保持在高分辨模式下知道它被关闭，要想在高速度或通用模式下使用时，先关掉电源然后再打开，在关于使用高分辨率操作的说明在以下的章节有更详细的说明。
二， 附加信息显示
测量过后，kvp值将会显示。附加信息将会随着按钮按下瞬间显示，仪表将会接着显示下面的信息：
● 波形类型
● 暴露时间
同时返回到kvp方式。
波形类型和暴露时间将会依次在1.2秒的时间里显示，附加信息显示完毕之后，显示将会回复到kvp模式，这时表将会为下次读数做准备。如果电池电量太低则“电量低”（“Batt low”）信息提示也会在1.2s内显示。
操作
Kvp测量
为了使用Model 815型x射线表进行kvp测量，在很多的情况下它只须打开这个仪器就可以直接测量。但是要把检测的目标放在灯的中心位置，这样就可以检测到暴露值。
为了保证得到xx的读数以下几点要记住。
1、 电流（mA）
当Model 815 所测的目标在合适的位置则它的操作精度减少到70mA，{zh0}的精度是在10mA到50mA之间得到。
2、 高度
对于半波x射线在7到15mA输出范围内，它的锥形波形应该在高于仪器1/2到2英寸处对于x射线在25到100mA输出，把仪器放在仪器上方8到16英寸处（1英寸=2.540cm）
3、 校准（collimation）
X射线校准要以2″每次地向目标中心移动。
4、 暴露时间
它有两种模式需要不同的暴露时间。
在“通常”或“高速”模式下暴露时间必须至少在0.1秒（100ms）
仪器可在100ms暴露时间里测到kvp值，为了减少顶部的磨损破裂和在射线下操作。暴露时间大于100ms是没有必要的，当仪器用于测量暴露时间，稍微长一点的暴露是允许的。
在高分辨率模式下x射线曝光时间至少在0.2s（200ms）仪器在{dy}个200ms时间之间测得kvp值为了减少顶部的磨损和破裂，在射线下操作。暴露时间大于200ms是没有必要的。当仪器用于测量曝光时间时，长的暴露时间是允许的。
5、 波形
这个仪器在测量{zd0}值或峰值加速电压时为了使x射线的稳定一般要求x射线暴露时间在30ms时间以外应该再稍有延迟。仪器将会在剩余的时间里显示x射线暴露的加速电压的峰值。
6、 初始化读数
当x射线检测器不使用时它会积累电荷，当初始化开关打开时，仪器需要一条射线束才能准确地工作。
暴露时间测量
815型kvp表在测量暴露时间时kvp值也会被测量到，为了显示测量后暴露时间按一下白色的按钮，暴露时间将会在显示屏上以ms为单位显示结果。在“通常”或“高速”模式下，曝光时间小于100ms则不能测量。X射线暴露时间至少在100ms如果要求测量曝光时间在100ms以内的请致电去购买8700型数字x射线表。
当仪器在高分辨率模式时，暴露时间少于200ms是不能被xx地测量到结果的，x射线暴露时间至少在200ms，我们推荐您使用通用模式对暴露时间进行测量。
更准确的暴露时间在低的kvp/mA设置处得到，很多的高能量x射线曝光时间会因为显著的衰变使得曝光时间延长，我们主张在50到80kv、25到50mA的范围内测出暴露时间的测量。
高分辨率 

    K815型表是一个为了减少对x射线头的损坏而专门设计的精密测量仪器，但是它有三种情况可以在较长时间里得到x射线的xx波形样图。
低能量-当kvp的值在60kvp时，xx的读数可以通过设置x射线的曝光时间200ms和在高分辨率模式下提高。
一些x射线检测仪特别是老式的仪器在很长一段时间里才能检测到x射线的暴露峰值，在通用模式和高速度模式下仪器会在开始测量时间前等待30ms的时间，这个等待时间，在高分辨率模式下加倍，并且实际测量时间也加倍。
一些直流和多相电子束运动非常迅速，然而它有很大的过冲，如果过冲时间大于30ms在高分辨率模式下将会得到真实的kvp{zd0}值的xx读数。
以下是仪表显示的提示信息的具体描述。
Rdy Fast-Unit 在快速模式下读数
Rdy Hires 准备在高分辨率模式下测量
AlignErr-Alignment Error 把815型表放在x射线处，开始测量
OverRng X射线输出值太高，减少其值或增加射线源到815表的距离。
Overscale 输出射线超过815表的测量范围
Low Batt 电池电量低，这时仪器可以继续工作几小时但是精度会有影响，请快换电池。
滤除因子
815型kvp表有一个为钨管x射线仪校正的1.5mm厚的铝制过滤装置，当x射线有不同的过滤装置时，请根据下表提到的数字在读kvp值时适当调整。
Added filtration (增加的过滤器) 60kvp 80kvp 100kvp 120kvp
0.5mm -0.2 -0.5
1.0mm -0.4 -0.9 -1.1 -0.6
例如你的x射线过滤装置为2.5mm的Al，也就相当于增加的过滤装置的厚度为1.0mm当读能量约为60kvp的射线值时将会高出0.8kvp。减去0.8kvp就得到正确的读数。
这个值也可以是其中间的某一个。如: 当检测的射线能量在70kvp时，在0.5mm增加过滤装置时（共2.0mm）使用校正因子在0.3到0.5之间的值即0.4，也就是说，当测量70kvp能量射线在过滤装置在0.2mm Al时应在读数基础上减去0.4kvp。
当射线能量在55kvp以下时这个校正因子非常小可以忽略不计。

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