JK2817高频电桥

                                                                              JK2817高频电桥                                                                                                                                                 

多功能菜单式按键
多点测试电平选择
保护用户参数设定
多频点显示模式
四档分选讯响
打印接口、RS232接口(选件)直读、档号 键盘锁定功能

测量参数:L-Q C-D R-Q Z-Q
测试频率:100Hz、1kHz、10kHz、40kHz、100kHz
测试电平:0.1V、0.3V、1V
显示范围:L:0.0001μH-9999.9H
     C:0.0001pF-99999μF
     Z/R:0.0001Ω-99.999MΩ
     D/Q:0.0001-99999
基本准确度:0.1%
测试速度:慢速2次/秒,中速5次/秒,快速8次/秒
清零功能:开路、短路清零
主要功能:量程锁定,掉电数据保护
接 口:Hander接口、RS232接口(选件)

  1062高频电桥

测试参数
主显示器 电感(L),电容(C),电抗(Z),电阻(R)
副显示器 品质因子(q),损耗因子(d)串联等效电阻(ESR),相位角(?)
测试信号
测试电压 10mv∽1.0v, 10mv/step
测试频率 40HZ∽200KHZ,30steps
频率准确度 ±0.01%
输出阻抗 100mA±5%(IV设定),阻抗≤10欧,
2欧±10%,阻抗≥10欧
测量显示范围
主参数 L:0.0001uH∽19999H
C:0.0001pF∽199.99mF
R:0.00001欧∽199.99M欧
副参数 Q,D:0.0000∽1000
相位角(?):-180°∽+179.99°
ESR:0.000m欧∽19999K欧
基本准确度 0.1%
测量速度(1KHZ)
快速 8meas./sec
慢速 2.5meas./sec
触发 内部 手动(内部/外部)
显示器
L,C,|Z|,R 5位数
Q,D,R,相位角 4位数
频率、电压 3位数
等效电路模式 串联、并联
外加偏压 DC:0∽35V
修正功能 开路归零,短路归零
判定方式   良品/不良品判定
一般规格
操作环境 温度:10℃∽40℃ 湿度:10% ∽90%
消耗功率 {zd0}55VA
电源需求 90V∽125V或190V∽250V,48HZ∽62HZ
重量 约5.5kg 约6.5kg
尺寸(宽×高×深) 405×130×365mm

 

3302型精密LCR数字电桥
性能特点:
阻抗测量范围最宽的自动平衡电桥技术
四端对端口配置有效xx测试线电磁耦合
基本准确度0.05%(JK3302)、         
{zg}达1 MHz的测量频率范围
交流测试信号可编程至20V(选件)
{zg}达30次/秒的测量速度
六位读数分辨率
可测量22种阻抗参数组合
30 Ω, 100 Ω可选信号源输出阻抗
10点列表扫描测试功能
内部可编程直流偏置± 40 V/100 mA(选件)
外置偏流源至40 A(配置两台JK1775)
电压或电流的自动电平调整(ALC)功能
V、I测试信号电平监视功能
20组内部仪器设定可供储存/读取
内建比较器,10档分选及计数功能
RS232C, GPIB和HANDLER接口
2 m/4 m测试电缆扩展(选件, 仅3302)
USB接口供数据外存(仅JK3302)
320×240点阵大型图形LCD显示
中英文可选操作界面
3302是采用当前国际{zxj}的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器,其0.05%/0.1%的基本精度、20Hz—1MHz的频率范围及高达100 MΩ的阻抗测试范围可以满足元件与材料的一切测量要求,特别有利于测量低D电容器和高Q电感器的测量。其支持20V交流测试信号和40A直流偏置的高功率测试条件及列表扫描功能将有利于用户扩展元件评价的能力。四端对的端口配置方式可有效xx测试线电磁耦合的影响,将低阻抗测试能力的下限比常规五端配置的仪器向下扩展了十倍。

广泛的测量对象:
无源元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数测量。
半导体元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数测量。
其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估。
介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数的损耗角评估。
磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估。
半导体材料:半导体材料的介电常数,导电率和C-V特性。
液晶材料:液晶单元的介电子常数、弹性常数等C-V特性。

多种元件、材料特性测量能力
揭示电感器件的多种特性
3302{zy1}的性能和20Hz-1 MHz的测试频宽可以xx地分析磁性材料、电感器件的性能。
  使用JK10301选件的100mA DC的偏置电流可以xx测量高频电感器件、通讯变压器,滤波器的小电流叠加性能。使用TH1775电流叠加装置,可使偏置电流达40A以xx分析高功率、大电流电感器件。

xx的陶瓷电容测量

1kHz和1MHz是陶瓷材料和电容器的主要测试频率。陶瓷电容器具有低损耗值的特征,同时其容量、损耗施加之交流信号会产生明显的变化。
  仪器具有宽频测试能力并可提供良好的准确度,六位分辨率和自动电平控制(ALC)功能等,中以满足陶瓷材料和电容器可靠、准确的测试需要。

液晶单元的电容特性测量

电容-电压(C-Vac)特性是评价液晶材料性能的主要方法,常规仪器测量液晶单元的C-Vac特性遇到一个问题是{zd0}测试电压不够。
  使用JK10301选件可提供分辨率为1%及{zg}达20Vms的可编程测试信号电平,使它能在{zj0}条件下进行液晶材料的电容特性测量。

半导体材料和元件的测量
进行MOS型半导体制造工艺评价时,需要氧化层电容和衬底杂质密度这些参数,这些可从C-Vdc特性的测量结果推导出来。
  20HZ-1 MHz的测量频宽及高达40VDC的可编程偏置电压方可方便地完成C-VDC特性的测量。
  为了测试晶圆上的半导体器件,需要延伸电缆和探头,仪器的2m/4m延伸电缆选件可将电缆延伸的误差降至最小。
  各种二极管、三机管、MOS管的分布电窜也是本仪器的测试内容。

适应多种领域的测试需要
新材料、新元件的研究开发

 3302具有的0.05%/0.1%基本准确度极大提高了测量的可信度。仪器提供的六位分辨率可以检测元件参数的细微变化,尤其对损耗器件的测试具有良好的性能。
提高生产效率
 3302 30次/秒的测试速度可满足大多数生产场合高效测试的需要,从而提高生产厂的产能。
  内建比较器、电缆长度补偿、Handler接口可方便地用于自动测试系统。
  内建存储器及USB外存装置可大大减小操作时间并降低听任错误。
应用广泛的品质检验手段
仪器具备的20Hz-1MHz的频宽及5mVms-20ms的信号电平范围可满足绝大多数元件的检测需要。
  JK10301 及 JK1775的配置解决了器件直流偏置测量的要求。
  提供径向、轴向、SMD元件的多种测试夹具配置。

用户友好的操作界面
简化的前面板操作
仪器配置的320x240点阵的LCD显示器使操作者可清晰地观察测量结果,各种设定状态一目了然,交互式软键大大简化了仪器操作。
非易失性存储器以保存多种仪器设置
3302提供有内部非易失性存储器可保存20组仪器测量设置,JK3302还具有外部USB存储卡进行数据保存及多台仪器统一进行数据设置/调用。这将减小参数的设置错误并提高用户使用效率。
灵活的数据通讯方式
 3302提供有GPIB并行通讯接口,为多机通讯并组成自动测试系统提供了可能,同时,仪器还提供了低成本的RS232C串行通讯方式以方便地与计算机进行远程通讯。   


技术参数:
联系电话:0755-81775132/13689553318李远东



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