配有喇叭口天线、抛物线天线或½"- 导波管天线的雷达传感器，用于连续物位测量(K-频段)

适用于存储容器或过程容器，可以在恶劣条件下测量几乎所有介质。

优势

- 非接触是测量，不受过程温度、过程压力和过程气体的限制

- 可以测量至距离天线下缘50mm的地方

- 测量精度 ±3 mm

- ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑

- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试

- 属于plics®产品系列

测量范围 达 35 米

过程连接 螺纹或法兰

过程温度 -40 ... 200°C

过程压力 -1 … +40 bar (-100 … +4000 kPa)

测量精度 ±3 mm

发射频率 K-频段

名称：雷达波物位计

型号：PULS63

配有塑封天线系统的雷达传感器，用于连续物位测量 (K-频段)

特别适用于测量腐蚀性强的介质，或用于卫生无菌要求高的环境。

优势

- 用于探测的材料只有一种

- 可以测量至距离天线下缘50mm的地方

- 测量精度 ±3 mm

- ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑

- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试

- 属于plics®产品系列

测量范围 达 20 米

过程连接 法兰或卫生连接

过程温度 -40 ... 150°C (超低温型可达 -170°C)

过程压力 -1 … +16 bar (-100 … +1600 kPa)

测量精度 ±3 mm

发射频率 K-频段

名称：雷达波物位计

型号：PULS65

配有棒式天线系统的雷达传感器，用于连续物位测量 (C-频段)

特别适用于小的过程连接，在较为简单的过程条件下测量腐蚀性液体。

优势

- 探头材料: PVDF 或 PTFE

- 可以测量至距离天线下缘100mm的地方

- 测量精度 ±10 mm

- ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑

- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试

- 属于plics®产品系列

测量范围 达 35 米

过程连接 G1½A螺纹或法兰

过程温度 -40 ... 150°C

过程压力 -1 … +16 bar (-100 … +1600 kPa)

测量精度 ±10 mm

发射频率 C-频段

名称：雷达波物位计

型号：PULS66

配有喇叭口天线或2”导波管天线的雷达传感器，用于连续物位测量(C-频段)

特别适用于在极端复杂的过程条件下进行测量。

优势

- 非接触是测量，不受过程温度、过程压力和过程气体的限制

- 可以测量至距离天线下缘100mm的地方

- 测量精度 ±10 mm

- ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑

- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试

- 属于plics®产品系列

测量范围 达 35 米

过程连接 法兰

过程温度 -40 ... 400°C

过程压力 -1 … +160 bar (-100 … +16000 kPa)

测量精度 ±10 mm

发射频率 C-频段