四探针- 七星电子- qxdz002 - 和讯博客
四探针 [原创 2010-04-06 17:12:43]   
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0 && image.height>0){if(image.width>=700){this.width=700;this.height=image.height*700/image.width;}}" style="MARGIN: 0px 6px" height=10 src="http://www.sevenstar.com.cn/pic/1432.gif" width=10>联系方式:010-84572690/64361831转8416,8417,8418
   
产品简介: 设备用于测量硅片的薄层电阻和电阻率,也能测量其他半导体片、膜的薄层电阻和电阻率,且可对扩散、外延、离子注入等工艺设置进行监测和评估,该测试仪还可用于镀膜玻璃行业对金属膜层的薄膜电阻进行测量。
 
产品详细描述:
 
主要指标:

       适用晶片尺寸:2”~6”,125mm×125mm~156mm×156mm

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