1 良好的导电性能：引线框架在塑封体中起到芯片和外面的连接作用，因此要求它要有良好的导电性。另外，在电路设计时，有时地线通过芯片的隔离墙连到引线框架的基座，这就更要求它有良好的导电性，集成电路的工作频率较高，为减少电容和电感等寄生效应，对引线框架的导电性能要求就更高，导电性越高，引线框架产生的阻抗就越小。 一般而言，铜材的导电性比铁镍材料的导电性要好。如：Fe58％-Ni42％的铁镍合金，其电导率为3．0％IACS；掺0．1％Zr的铜材料，其电导率为90％IACS；掺2．3％Fe、0．03％P、0．1％Zn的铜材料，其电导率为65％IACS，因此从上面可以看出，铜材的电导率较好，并且根据掺杂不同，其电导率有较大的差别

2 良好的导热性：成电路在使用时，总要产生热量，尤其是功耗较大的电路，产生的热量就更大，因此在工作时要求主要结构材料引线框架能有很好的导热性，否则在工作状态会由于热量不能及时散去而"烧坏"芯片。导热性一般可由两方面解决，一是增加引线框架基材的厚度，二是选用较大导热系数的金属材料做引线框架。 Fe58％-Ni42％的铁镍合金导热系数为15．89W／cm~℃；掺0．1％Zr的铜材料，其导热系数为359．8W／cm~℃；掺0．1％Fe、0．058％P的铜材料，其导热系数为435．14W／cm℃。可见铜材料的导热系数{zh0}，而且根据掺杂的不同，其导热系数不一样。

3良好的热匹配(即热膨胀)：材料受热产生膨胀，在封装体中，引线框架和塑封体的塑封树脂相接触，也和芯片间接接触，因此要求它们有一个良好的热匹配。Fe58％-Ni42％的铁镍合金，其线膨胀系数为43×10-7／℃，一般的铜材料引线框架，其线膨胀系数为(160~180)×10-7／℃，由此可见，铁镍材料的膨胀系数较小，铜材料的膨胀系数较大。铜质引线框架的膨胀系数和塑封树脂的膨胀系数(200×10'7／~C左右)相近，但是和硅芯片的膨胀系数相差较大，硅的膨胀系数为26×l0-7／℃。不过，现在采用的树脂导电胶作为粘片材料，它们的柔韧性强，足以吸收芯片和铜材之间所出现的应力形变。如果是共晶装片，那么就不宜采用线膨胀系数大的钢材做引线框架了。

4良好的强度：引线框架无论是在封装过程中，还是在随后的测试及客户在插到印刷线路板的使用过程中，都要求其有良好的抗拉强度。Fe58％-Ni42％的铁镍合金的抗拉强度为0．64GPa，而铜材料合金的抗拉强度一般为0．5GPa以下，因此铜材料的抗拉强度要稍差一些，同样它可以通过掺杂来改善抗拉强度。作为引线框架，一般要求抗拉强度至少应达到441MPa，延伸率大于5％。

5 耐热性和耐氧化性：耐热性用软化温度进行衡量。软化温度是将材料加热5分钟后，其硬度变化到最初始硬度的80％的加热温度。通常软化温度在400℃以上便可以使用。材料的耐氧化性对产品的可靠性有很大的影响，要求由于加热而生成的氧化膜尽可能少。

6具有一定的耐腐蚀性：引线框架不应发生应力腐蚀裂纹，在一般潮湿气候下不应腐蚀而产生断腿现象。 3封装工艺对引线框架的要求 引线框架作为主要结构材料，从装片开始进人生产过程一直到结束，几乎贯穿整个封装过程，它的设计是否合理、质量控制得好与坏，将影响到封装的几乎所有的重要工序，如装片、键合、塑封、电镀、切筋等，因此根据封装工艺，对引线框架具有以下的要求：