坏道与硬盘的容灾机制    

  如今科技在发展,所有东西都以数据的形式存储在电脑或移动硬盘、U盘下,但对于目前大容量、高密度的硬盘来说,坏道的产生不可避免。硬盘出厂时,厂商会将生产过程中产生的坏道进行屏蔽,即所谓的P表机制(P-List),同时P表内还隐藏着一部分“优良区域”(同一生产线上出产的碟片,容量是相同的,厂商通过将一部分区域屏蔽掉而使硬盘的出厂容量有所不同,例如同一系列的硬盘在市面上有160G、320G和500G的区别,但实际上它们碟片均出自同{yl}水线,且容量均大于500G,只是厂商将一部分容量屏蔽掉了)。P表位于硬盘的固件区域内。当硬盘由于坏道故障回到工厂维修时,厂商会将后续产生的坏扇区放入P表内,同时从P表的“优良区域”内释放相应容量的扇区,于是故障硬盘在容量不缺损的情况下又“满血复活”了。P表区"域无法被用户访问。
    硬盘在使用时,其实坏道仍在不断产生,但少量坏道对用户数据并不构成威胁,这是因为出厂后的硬盘也有容灾机制,少量坏道会通过硬盘的G表(G-List)进行屏蔽并再分配。但如果坏道数量超出G表的承受范围,无法为持续产生的坏道进行扇区再分配,这部分坏道就开始破坏用户数据,影响系统正常运转了,在轻微情况下,用户强行开机或者进PE数据还是能够拷贝出来的,在严重情况下,硬盘不能识别,或者数据根本无法拷贝,这时,只能进行http://tjshuju.cn.qiyeku.com。

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