【中文篇名】 | 分光光度测量中的狭缝宽度误差及其修正 |
【英文篇名】 | Slit Width Error and Its Correction in Spectrophotometry |
【作者】 | 张梓华; |
【英文作者】 | Zhang Zi-hua; |
【文献出处】 | 计量学报 , Acta Metrologica Sinica, 编辑部邮箱 1981年 01期 期刊荣誉:中文核心期刊要目总览 ASPT来源刊 CJFD收录刊 |
【中文关键词】 | 单色仪; 任意形状; 修正系数; 分光光度测量; 狭缝宽度; 通带; 入射狭缝; 狭缝函数; 出射狭缝; 误差修正公式; |
【摘要】 | 为了讨论单色仪的传输特性,本文中引入了狭缝函数 F_s(λ,λ_o)的概念。通常它可以代表单色仪通带的形状。文中还讨论了当单色仪通带为任意形状时的缝宽误差修正公式。Runge 和 Hyde 等人的修正公式均可作为特例由此公式推导出来,只不过四级以上的修正系数稍有不同而已。基于分光光度测量中要求单色仪输出光能尽量大,而缝宽误差尽量小,从理论上可证明{zj0}狭缝调节是使出射狭缝与入射狭缝的像等宽。文章{zh1}部分还指出:Van den Akker 的波长校准误差并不一定是由单色仪的通带为非对称引起的。 |
【英文摘要】 | In order to discuss the transmission properties of the monochromator,we intro- duced the concept of the slit function F_3 (λ,λ_0).In general,it can represent the shape of the pass-band of the monochromator.In this paper,we also discussed the correction for slit error when the shape of the pass-band of the monochromator is arbitrary,and a general correction formula has been obtained.In fact,Runge and Hyde’s correction formulae are the special cases of ours.There is only a little difference for the correction… |
【DOI】 | CNKI:SUN:JLXB.0.1981-01-003 |
【更新日期】 | 2006-08-10 |
【正文快照】 | 分光光度测量技术在计量学以及科学技术的其他领域使用日益广泛。分光测量的目的主要是为了知道光辐射的有关量在特定波长处的值或其随波长变化的规律。测量时要使用单色仪,而通过单色仪的光能和单色性常常相互矛盾。要保证足够的光能,狭缝就不能开得很窄。因此,在输出光中总有 |