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TT220涂层测厚仪的校准方法
应在丈量场所对TT220涂层测厚仪进行校准。为使TT220涂层测厚仪丈量准确。
一、TT220涂层测厚仪的校准规范片(包括箔和基体)
已知厚度的箔或已知覆盖层厚度的试测厚仪镀层测厚仪超声测厚仪样均可作为校准标准片。简称规范片。
⒈校准箔
对TT220涂层测厚仪箔指非磁性金属或非金属的箔或垫片。箔有利于曲面上的校准。
⒉有覆盖层的规范片
覆盖层应是非磁性的采用已知厚度的均匀的并与基体牢固结合的覆盖层作为标准片。对于本仪器。
二、TT220涂层测厚仪的基体
应当与待测试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。为了证实规范片的适用性。⒈对于TT220涂层测厚仪标准基体金属的磁性和表面粗糙度。可用规范片的基体与待测试件基体上所测得的读数进行比较。应当与待测测厚仪镀层测厚仪超声测厚仪试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。为了证实规范片的适用性。
可采用下面两种方法进行校准：⒉如果待测试件的基体厚度没有逾越参数表中所规定的临界厚度。
1与待测试件的基体金属厚度相同的金属规范片上校准；
但必需使基体金属与衬垫金属之间无间隙。对两面有覆盖层的试件。2用一足够厚度的电学或磁学性质相似的金属衬垫标准片或试件。不能采用衬垫法。但必需使基体金属与衬垫金属之间无间隙。对两面有覆盖层的试件。
则有覆盖层的规范片的曲率或置于校准箔下的基体金属的曲率。⒊如果待测覆盖层的曲率已达到不能在平面上校准。应与试样的曲率相同。则有覆盖层的规范片的曲率或置测厚仪镀层测厚仪超声测厚仪于校准箔下的基体金属的曲率。
三、TT220涂层测厚仪校准方法
零点校准；二点校准；还有一种针对测头的基本校准。TT220涂层测厚仪有两种测量中使用的校准方法。
⒈TT220涂层测厚仪的零点校准
显示<.μm>。a.基体上进行一次测量。
屏显<0.00μm>即完成零点校准。b.按一下ON/C键。
须重复上述a b以获得基体测量值小于1μm这样有利于提高丈量精度。零点校准完成后就可进行测量了c.要准确地校准零点。
⒉TT220测厚仪镀层测厚仪超声测厚仪涂层测厚仪的二点校准
a.先校零点(见上)
显示<μm>。b.厚度大致等于预计的待测覆盖层厚度的规范片上进行一次测量。
使其达到规范片上的标称值。校准已完成。c.用或?键修正读数。可以开始丈量了使其达到规范片上的标称值。校准已完成。
按?键也是必不可少的例如按一次键一次?键。如欲较准确地进行二点校准。注意：即使显示结果与标准片值符合。可重复b c过程，按?键也是必不可少的例如按一次键一次?键。如欲较准确地进行二点校准。以提高校准的精度，减少偶然误差。测厚仪镀层测厚仪超声测厚仪
⒊TT220在喷沙表面上校准
其覆盖层厚度大致可用下面的方法确定喷沙表面的特性导致了丈量值大大偏离真值。
a.仪器要用三、⒈或三、⒉方法在曲率半径和基材相同的平滑外表校准好。
得到平均值Mo b.未涂覆的经过同样喷沙处理的外表丈量10次左右。
已涂覆的外表上测量10次得到平均值Mm c.然后。
d.Mm测厚仪镀层测厚仪超声测厚仪Mo±S即是覆盖层厚度。其中S规范偏差)SMm和SMo中较大的一个。
⒋TT220涂层测厚仪的基本校准
改变基本校准是有必要的下述情况下。
测头顶端被磨损
测头修理后
特殊的用途
如果误差明显地超出给定范围。丈量中。则应对测头的特性重新进行校准，如果误差明显地超出给定范围。称测厚仪镀层测厚仪超声测厚仪为基本校准。通过输入6个校准值(一个零值和5个厚度值)可重新校准测头。
TT220涂层测厚仪基本校准操作方法如下：
随着一声鸣响即进入基本校准方式。led显示屏显示：B Calibrata.涂层测厚仪关闭状态下按住?键再按ON/C键开机。e
&lt,fingerprint access control；以获得一个多次校准的平均值。b.先校零值(见零点校准)可连续重复多次。这样可提高校准的准确性。以获得一个多次校准的平均值。
按厚度增加的顺序做五个厚度的校准(见二点校准中的b c每个厚测厚仪镀层测厚仪超声测厚仪度应至少是上一个厚度的1.6倍以上。c.使用规范片。理想的情况是2倍。例如：50 100 200 400 800μm{zd0}值应接近、但低于测头的{zd0}测量范围。按厚度增加的顺序做五个厚度的校准(见二点校准中的b c每个厚度应至少是上一个厚度的1.6倍以上。
丈量一下零点。d.输入6个校准值后。仪器自动关闭，丈量一下零点。新的校准值已存入仪器。当再次开机时，仪器将按新的校准值工作。