涂层测厚仪的{zx1}技术
2010-01-21 14:03:22 阅读4 评论0 字号：大中小
目前，国内国外不管是出名的品牌还是一般的生产厂家，其测厚仪的操作方法均需要如下步骤：
1调零，即在特定的零板上调零，或在需要测量的原基材上调零；
2根据测量产品的不同测量范围，用适当的测试片调值，以减少测量上的误差。
这种方法一般情况下，仪器新购使用时还是没有什么问题的，只是比较繁琐一点。
但当探头使用一段时间后，问题就出来了。操作中我们的仪器测量精度大大减小了。
很难把握。原因在于产品的原理，这是一个致命的缺陷，即探头是使用一根磁铁绕线圈。
通上电流后产生磁场，这个磁场是不规则的。
还好，现在有一款新型的涂层测厚仪，即FT200涂层测厚仪，它采用的是{zx1}的磁感技术。
也就是我们知道的 霍尔效应， 霍尔于1879年发现的。通过研究霍尔电压与工作电流的关系，测量电磁铁磁场、磁导率、研究霍尔电压与磁场的关系 , 霍尔发现这个电位差 UH与电流强度 I H 成正比，与磁感应强度 B 成正比，与薄片的厚度 d 成反比。
这个磁场是就变成规则的。该原理运用在涂层测厚仪上面就无需再调测试片了。特别是测量圆弧的或凹面的产品时，使用更为简单和方便了。
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