带方波技术的Z系列xx超声波探伤仪集性能、快捷、专业、便携于一身，精准满足各种苛刻需求。超越主流的性能与硕德产品特质xx融合，从经历中锤炼技巧，有勇气挑战极限。灵敏的反馈、上乘的性能，数字内涵模拟体验、没有杂波干扰的舒畅感觉，它就像您的第六感官，随您想法而动。Z系列超声波探伤仪更像是一款披着便携外衣的检测工作站，必将带领您进入检测的更高境界。
底波衰减
独有性能
底波衰减更适合粗晶材料等需要深度补偿功能的探伤
自动测量球墨铸件球化率，声速测量满足JB9219标准
粗糙表面专用耦合剂
内置常用铸造专用工艺标准
射脉冲能量高/低可调，与阻尼50/150/400Ω配合，可以获得{zj0}探伤性能…
底波衰减，深度补偿
手动/自动测量球化率 国内{wy}
通用性能
方波激励：适用难以穿透复合材料
国内业界{lx1}的可调方波激励技术，适用于难以穿透的各种材料。可调节选项的高性能“方波/脉冲发生器”，实现与探头的{zj0}匹配。对于声波衰减较厉害的复合材料，铸件，厚板尤其有效，具有{jj0}的穿透力和信噪比；而对检测薄工件和复合材料又有高的分辨率。
窄带滤波器组(Z)
在常规宽频带滤波基础上增加了多个常用的窄带滤波器，信号通过与探头匹配的窄带滤波器，可获得{zh0}的信噪比，从而极大的抑制了噪声。（达到无杂波效果）
国内率先达到10位高精度AD采样
超长待机：10/20小时，摆脱充电烦恼
高亮真彩，强光可见，屏幕亮度5级可调，节电环保
工业级宽温硬件操作，军工元器件，极低故障率
镁铝合金外壳，坚固耐用，有效防止电磁干扰
功能
U盘存储，即插即用
USB接口可插入U盘，无需驱动，支持热插拨，即插即用。实现探伤报告存储、拷屏打印。
二维编码B扫描 直观显示缺陷位置
xx探伤仪常用的二维色彩编码B扫描功能。B扫描功能图像式的观察缺陷模式，能够产生很好的对比效果，更便于缺陷的分析判断。通过:灰度/彩色调色板还可以自动显示缺陷危害程度，也可实时对比观测A扫波形和B扫图像
超大容量数据储存：3200个数据组
探伤与高精测厚一体
5条智能DAC曲线，符合JIS和API标准
实用DGS曲线:大平底、平底孔、通孔三种参考类型
操作
常用功能一键直达
菜单布局合理
自动校准：声速、探头延迟、角度/K值
球化率测量
二维编码B扫描
DAC曲线 DGS曲线
回波编码（波形方式 VS. 坐标方式）
性能指标
检测范围
1.0~15000mm
检测分辨率
0.01mm(<100mm)；1mm(>100mm)
声速
500~20000m/s；20个固定声速
显示延迟
-20~3400us 分辨力: 0.1us
探头延迟
0~99us 分辨力: 0.01us
自动校准
通过两个已知参考回波自动校准声速和探头延迟
线性误差
水平 ≤0.1% 垂直 ≤3%
动态范围
≥36dB
灵敏度余量
≥64dB 200mmФ2平底孔
外型尺寸
240×180×50mm
重量
1.9Kg（包括电池组）
工作环境
温度：-20℃~70℃；湿度：5%～90%
