偏光熔点仪（热台）：XPR-500D企业库|免费b2b网站

偏光熔点仪（热台）：XPR-500D

一、仪器的主要用途和特点
XPR-500型透射偏光熔点测定仪（热台）是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等专业最常用的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。
本系统广泛应用于高分子材料、聚合物材料等化工领域，适用于研究物体的结晶相态分析、共混相态分布、粒子分散性及尺寸测量、结晶动力学的过程记录分析、液晶分析、织态结构分析、熔解状态记录观察分析等总多研究方向。
偏光显微熔点测定仪XPR-500系统汇集了光电、模式识别、精密加工、图象学、自动控制、模量学等总多研究领域的当前{lx1}技术，多年研究开发的结果，在国内享有{jd1}{lx1}.本仪器的具有可扩展性，可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。

二、仪器的主要技术指标

1.显微镜技术参数：
2.熔点仪技术参数:

热台组成	性能
显微精密控温仪	在20倍物镜下工作温度可达到{zg}300 ℃ 、温度运行程序全自动控制；温度程序段由用户自行设定， 30段温度编程，循环操作，能准确反映设定温度、炉芯温度、样品的实际温度。每段设定起始温度，及在该段内可维持时间，升温速率可调、精度 ± 0.3 ℃、记忆点读数
显微加热平台	可以随载物台移动、工作区加热面积大、透光区域可调、工作区温度梯度低于± 0.1 • 起始温度室温 • 工作区加热使用面积至少 1X1厘米 • 工作区温度梯度不超过 ± 0.1 • 透光区域 2mm以上，可调 • 显示温度与实际温度误差不超过 ± 0.2 • 热台可以随载物台移动在加热状态下{zg}可使用 20倍物镜
注意：熔点测定（温度超过100度时，25X的物镜工作距离太近，容易损坏镜头，请选用长工作距离的物镜25X、40X的物镜）

三、系统数字性

XPR-500D型偏光熔点仪系统是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、{jd0}的数码成像技术和精密的温控技术xx地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在数码相机上很方便地观察不同温度下的偏光效果图像，并对偏光图谱进行分析,处理,还可输出或冲印偏光图片。

四、系统组成

1、偏光显微镜XP-500　　　　　　　　　
2、数码适配镜
3、彩色数码相机
4、热台

五、选购部分

1.偏光xxxx