| 【中文篇名】 | 高速存储器测试图案发生器 |
| 【英文篇名】 | A Pattern Generator for Testing High Speed Memory |
| 【作者】 | 林雨; |
| 【英文作者】 | Lin Yu （Institute of Semiconductors; Academia Sinica）.; |
| 【作者单位】 | 中国科学院半导体研究所; |
| 【文献出处】 | 电子学报 , Acta Electronica Sinica, 编辑部邮箱 1981年 04期 期刊荣誉：中文核心期刊要目总览 ASPT来源刊 中国期刊方阵 CJFD收录刊 |
| 【中文关键词】 | 微程序控制; 微指令存储器; 高速存储器; 测试图案发生器; |
| 【摘要】 | 本文提出了一种适用于微程序控制的测试图案发生器的指令存储器结构,在此基础上研制成功了几种测试图案发生器,并对该种高速存储器测试图案发生器进行了分析和讨论。 |
| 【英文摘要】 | The main problem in developing microprogrammable controlled high speed lest ipattern generator is that the pattern generating speed is limited by its instruction memory speed. Unfortunately, the speed of the memory which we adopt to build this instruction memory is never faster than that of the memory being developed. Therefore, the requirement on the pattern generator in testing high speed memories under development can never be met.We have designed a new instruction memory with an access time of only one … |
| 【DOI】 | CNKI:SUN:DZXU.0.1981-04-013 |
| 【正文快照】 | 一、前 ~-飞边 ~‘~曰. 目一J‘ 「刁 半导体存储器是大规模集成电路的一个重要分支。研制及生产这种电路必须要有存储器的测试设备。存储器测试设备的核心是产生测试信号的测试图案发生器。为灵活产生各种测试图案,先进的存储器测试图案发生器是一个微程序控制的专用处理机。 |
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