论文网络收集站» K_(IC)测试中试件最小厚度的新判据
【中文篇名】 K_(IC)测试中试件最小厚度的新判据
【作者】 马光; 白秉三;
【文献出处】 沈阳机电学院学报 , [英文刊名], 编辑部邮箱 1981年 01期   
期刊荣誉:ASPT来源刊    CJFD收录刊
【中文关键词】 最小厚度; 试件厚度; 新判据; 中试;
【摘要】 本文通过量纲理论和数值分析,推导出一个关于在测试平面应变K_(IC)时试件最小厚度B的新判据——B≥1880(K_I)_C~2/E~(4I3)(σ_Y)~(2I3)。新判据与美国材料试验学会(ASTM)给出的判据B≥2.5(K_(IC)/σ_r)~2及 J.C.Ritter给出判据B≥400(K_I)_C~2/Eσ_r均出自同一组试验数据。通过三者之间的比较可强度钢来说,新厚应判据比另外二以得出结论:对于高强度钢和超高判据更合适些。
【DOI】 CNKI:SUN:SYGY.0.1981-01-009
【正文快照】 随着断裂力学的发展和在工程中的日益广泛应用,金属村料乎蔽应变断裂韧性K; c的测试引起了人们的重观。 山十下面应变断裂韧性K; 。是以线弹性断裂力学为基础提出的表示材料抵抗裂纹扩展能力的材料阶性指标,所以,在测试中要求试件满足三个条件:线弹性条件、平面应变条件和K; 近似
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