空气传播分子污染物、源头及监控系统的研究-暖通空调,中央空调 ...

  0 引言

  集成电路工业,自1958 年世界上{dy}块硅(Si)集成电路诞生以来,经过48 年的发展,现今已进入超大规模集成电路(ULSI)发展时期。半导体工业制作的集成电路组件尺寸(CD)越来越小,2005 年还大批量生产90 nm,但到2006 年至2007 年65 nm 以及45 nm 的也开始投产(见表1)。随着12 英寸硅片技术的成熟,在一块小小的芯片上,就可以整合更多的器件,而且随着技术越来越快的发展,不仅对设备的要求越来越精密、可靠,而且对工艺制造环境的要求也是越来越严格。

  而洁净室就是一个为环境敏感物质与产品打造的工艺制造环境,主要用于提高成品率与产量。而经过几十年的发展,洁净室中最早被认识并加以的空气颗粒过滤技术已是一门“成熟”的科学技术,并能够灵活地被应用在每个微小环境中。而一些微小的化学挥发性气体往往会被忽略,但实际它们对很多加工处理过程有害,特别是在集成电路工业,同时它们亦可能造成一定的人体健康危害。因此为了能够提供一个“更洁净”的生产环境,近年来空气传播分子污染物AMC(Airborne MolecularContaminant)也逐渐被认识并加以重视。

  1 认识AMC

  1.1 什么是AMC?

  术语“空气传播分子污染”(AMC),也简称“分子污染”,它包括了洁净室空气中出现的一系列污染物,其一般都具有以下特征:

  (1 )以气体、蒸汽及空气浮尘状态出现;

  (2)其化学特性可以为有机的或者无机的;

  (3 )包括酸、碱、聚合物添加剂、有机金属化合物、凝缩剂与添加剂。

  如按照其大小来区分,可以分为三种形态:(1)固态(微粒状的),即直径在0.003μm~1 0 0 μm,如灰尘、烟雾等;

  (2 )液态(和蒸汽),大概在1 μm~ 9 μm,如蒸汽、烟雾浮尘等;

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