【求助】关于制样的问题
引用原文由 scuhanwuji1984 发表:
主要材质为PC/ABS合金,在使用过程中开裂,想比对开裂部分和OK部分的红外谱图差异,但苦于找不到合适的制样方法,因为制品是螺柱形状,请问各位,这类样品该如何制备?有什么注意点?谢谢!

建议您用显微红外外加ATR池子,用普通红外,制样不太合适.
显微红如果样品不是太大的话,可以直接放上面进行测量.
样品台可以按照一微米一微米的步进,可以全面的点测量您的样品,有兴趣的话可以看看NICOLET IN10的资料.

引用原文由 tbs46 发表:
引用原文由 scuhanwuji1984 发表:
主要材质为PC/ABS合金,在使用过程中开裂,想比对开裂部分和OK部分的红外谱图差异,但苦于找不到合适的制样方法,因为制品是螺柱形状,请问各位,这类样品该如何制备?有什么注意点?谢谢!

建议您用显微红外外加ATR池子,用普通红外,制样不太合适.
显微红如果样品不是太大的话,可以直接放上面进行测量.
样品台可以按照一微米一微米的步进,可以全面的点测量您的样品,有兴趣的话可以看看NICOLET IN10的资料.

大部分用户都配不了红外显微镜吧,用ATR压片不行么?轻轻刮下一片压上去测样。您说的效果不好具体指的是什么?多谢

引用原文由 scuhanwuji1984 发表:
为什么老抽风啊?发帖都会两次?

附上元器件开裂详图,大家看看有没有帮助!


楼主{zh0}在图片上做个标注,方便观察和对比!
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