4.2.8.1 方法原理:晶体中原子层相互间隔与 X 射线的波长相近, X 射线在这些原理层间产生衍射,衍射后产生的 X 光图像不同,据此可以进行晶体结构、物相等分析。
4.2.8.2 仪器: X 射线衍射仪等。
4.2.8.3 适用范围:主要用于细粒至隐晶质、单晶或集合体成分结构物相分析。
a )粉末法,适用于未知材料及集合体;
b )单晶法,适用于单晶材料;
c )劳埃法,用于xx珍珠、养殖珍珠及其仿制品的区别。
4.2.8.4 操作步骤
a )样品准备;
b )开机、设置仪器条件及测试参数;
c )放置样品并测试;
d )分析所得图像。
4.2.9 无损成分分析方法
4.2.9.1 方法原理:物质在受到高能射线轰击时,激发产生特征的 X 射线,其波长或能量,与物质的组成元素种类、强度或元素浓度相关。根据不同 X 射线的分析方法(波长色散或能量色散),可定性或定量地分析物质的组成元素,高能射线包括高能 X 射线和高能电子束,无损成分分析方法有: X 射线荧光波谱或能谱分析方法、电子探针波谱或能谱分析方法等。
4.2.9.2 仪器: X 射线荧光光谱分析仪(能谱分析或波谱分析),电子探勘针能谱或波谱分析仪等。
4.2.9.3 适用范围:适用于 F ( Z=9 )或 Na ( Z=11 )至 U ( Z=92 )元素的测定,。