比表面积测定仪 高斯曲线比表面积测定仪—科捷
2010-07-01 21:30:55 阅读4 评论0 字号：大中小
一、高斯曲线比表面积分析仪：
比表面又称比表面积，系指1g固体物质所具有的表面积，它包括内表面积和外表面积之和，常用符号SA来表示，单位为m2g-1，它是表征固体性能的最重要的物化参数之一。因而，比表面积分析仪是生产、科研和教学工作中不可或缺的仪器设备。
BET法是测定比表面积的经典方法，由于此法测定操作比较费时，应用受到一定的限制。依据BET法原理，运用迎头色谱法测定比表面，设备简便、操作易行；迎头色谱法所得谱图的计算，采用“高斯曲线一点法”，具有快速、准确等优点。
二、高斯曲线比表面积分析仪仪器配置
三、高斯曲线比表面积分析仪原理
在迎头色谱法中，利用载气反吸咐（如：苯）连续恒定地带入装着固体吸咐剂的柱中，由于吸咐剂的吸咐作用，因而有一段时间无吸咐质从柱中流出，此段色谱流出曲线与基线重迭；当吸咐逐步达到平衡的同时，就开始流出部分吸咐质，{zh1}全部流出，此段色谱流出曲线为正态分布曲线。
四、高斯曲线比表面积分析仪主要特点
运用迎头色谱法测定比表面，测试速度快；
修正空白值，xx系统误差，测量精度高；
采用“高斯曲线一点法”定量，定量快速准确。
五、高斯曲线比表面积分析仪适用范围
比表面分析专用气相色谱仪GC5890S广泛用于纳米材料、催化剂、净化剂、吸附剂、助滤剂、柱填料、活性炭、氧化铝、硅藻土、海泡石、硅胶、稀土、煤炭、陶瓷、石墨、电池、水泥等多种产品的分析测定；在各种固态粉体新材料的研究开发、生产控制、产品应用、物性测试工作中得到广泛应用。
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