| 【中文篇名】 | 42W型高精度显微密度计 |
| 【作者】 | 刘毓满; |
| 【文献出处】 | 仪表工业 , [英文刊名], 编辑部邮箱 1981年 01期 期刊荣誉：ASPT来源刊 中国期刊方阵 CJFD收录刊 |
| 【中文关键词】 | 光化学; 研制成功; 高精度; 重要手段; 特性测试; 精密机械; 图象信息处理; 显微密度计; 中国科学院; 模量传递函数; |
| 【摘要】 | <正> 由中国科学院长春光学精密机械研究所、光化学所和上海光学仪器厂共同研制的42W 型高精度显微密度计已于最近通过{gjj}鉴定。该仪器可用于胶片特性测试,是胶片模量传递函数测量的重要手段,还可以用于航空、遥戚、天文、地质、生物、医学等领域的图象信息处理。这是我国首次研制成功的一种大型,高精度、自动化程度较高的显微密度计。仪器的特点是光机电综合性强,除可用数控程序操作外,主机还成功地 |
| 【DOI】 | CNKI:SUN:ZYQB.0.1981-01-021 |
| 【更新日期】 | 2007-08-10 |
| 【正文快照】 | 由中国科学院长春光学精密机械研究所、咸光化学所和上海光学仪器厂共同研制的42W型高精度显微密度计已于最近通过{gjj}鉴定。该仪器可用于胶片特性测试,是胶片模量传递函数测量的重要手段,还可以用于航空、遥咸、天文、地质、生物、医学等领域的图象信息处理。这是我国首次研 |
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