1 ;目测,在日光或灯下剔除双晶，剔除多晶体，剔除石含中夹杂物，剔除明显含云雾状的晶，剔除染色不均一单块。剔除紫色晶体。 2;将测试晶体两个对面进行研磨加工.抛光至光学O度，使用干涉测试仪对晶体內进行干涉捡查，调整光斑和光束大小进行遂行扫描，光路允许变色.但不允许道波扭曲，道波扭曲应剔除，是剔管道结抅单块,剔除內含气体包裹体单块(若包裹体位罝在稅角又末超过总总体积三分之一应保留算部分合格,计价时按三分之二计算)。通过本测试算合格。 3;通过上述测试的晶体再罝于双折射仪下测试.在显視屏上覌察光圈，平镜光圈连续均匀为优良晶体.反之为普通级。 4;晶体计量規则;以最小边长称重相结合,对角测量，以毫米(m)为以克为计量单位，重量以克(K)单位计量单位,最小边长大于25mm为商业晶体基本晶体.每大5mm为一个等级。5;本标准已有国內许多企业外赞同并认可，最终解释权归本企业。
