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特性曲线图示仪
是全球xx的高分辨率特性曲线图示仪,可应用到许多场合。
能完成晶体管,闸流管,二极管,可控硅,长效应管,光电元件,太阳能电池,固态显示和其它半导体器件的直流参数特性的测试。
在研发实验室,用检验器件、SPIEC参数的提取、失败分析和产生数据报告这些具体的测试工作在制造过程中,用 370B检验器件质量及过程监视。

可进行来料检查,器件性能测试失效,分析和器件配对这些测试工作。 半导体器件高精度测量
上限达 2000V或电流到10A的源(370B)
上限达 3000V(371B)
上限达 220W(370A)
上限达 400A(371B)
上 1nA的测量分辨率
上限到 3000W(371B)
上限到 2mV的测置分辨率(370B)

 



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