KRI 考夫曼射频离子源 RFICP380 用于铝表面溅射沉积 ZrN 薄膜

河北某大学研究室为了研究磁控溅射时间和氮气流量对 ZrN 薄膜色度的影响采用 KRI 考夫曼射频离子源 RFICP380 辅助在铝表面溅射沉积ZrN 薄膜

 

KRI 射频 RFICP380 技术参数:

射频型号

RFICP380

Discharge 阳极

射频 RFICP

离子束流

>1500 mA

离子动能

100-1200 V

栅极直径

30 cm Φ

离子束

聚焦平行散射

流量

15-50 sccm

通气

Ar, Kr, Xe, O2, N2, H2, 其他

典型压力

< 0.5m Torr

长度

39 cm

直径

59 cm

中和器

LFN 2000

 

KRI 的独特功能实现了更好的性能增强的可靠性和新颖的材料工艺. KRI 已经获得了理想的薄膜和表面特性而这些特性在不使用 KRI 技术的情况下是无法实现的.

 

试验结论:

随着磁控溅射时间的增长薄膜的亮度在减少黄蓝值在 3 min时出现大值说明镀膜时间在 3 min 时最接近黄色红绿值波动比较大而氮气流量在 13~18 sccm 薄膜颜色呈金黄色.

 

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