TFT-LCD技术的进步

 TFT-技术的进步

   自人类社会进入信息时代以来,信息显示技术在人们社会活动和日常生活中的作用日益剧增。例如,信息处理、接受及发送等操作均借助于信息系统终端设备与人之间的界面——显示来完成。另一方面,60年代以后,半导体集成电路技术的飞速发展和广泛应用,使信息系统设备向小型化、轻量化、节能化、高密度化发展。液晶显示具有低电压、微功耗、易彩色化等特点,恰好符合技术发展趋势和信息时代的需求,促使了技术的发展。
  70年代初英国Gray等人[1]合成了联苯氰基类正性向列液晶材料,并很快形成了TN-产业。利用TN-LCD特点,开发了电子数字手表、计算器、数字化仪器仪表、游戏器等产品,充分展示了液晶显示的优点。为了增加LCD的信息容量,Scheffer等人[2]提出了STN-LCD方案,其电光阈值特性好,简单点阵显示中占空比可达到1/480,实现了VGA笔记本电脑显示。STN-LCD器件结构类同于TN- LCD器件,在TN-LCD生产技术基础上,80年代末形成了STN-LCD产业。然而,由于STN点阵显示的响应速度、占空比、对比度、灰度级等的有限性,加快了TFT LCD技术的发展。Brody等人[3]70年代提出了TFT LCD方案。当时用CdSe TFT阵列,但CdSe材料的半导体工艺不成熟,发展缓慢,仅有加拿大Litten公司小批量生产xx产品。Si半导体工艺成熟,a-Si TFT技术发展快,90年代初形成a-Si TFT LCD产业。初期的TFT LCD产品,在视角特性、亮度、对比度、彩色等显示品质方面不如CRT,而且因制作工艺复杂、工艺流程过长、合格率低、产量不高、产品价格昂贵等不足,难以开拓市场。经过5~6年努力和技术进步,TFT LCD品质不断完善,开拓市场,市场占有率逐步上升。据1998年美国斯坦福资源公司报道,TFT LCD占居LCD市场份额的75%、平板显示市场的66%[4]。这些数据充分说明了TFT LCD在平板显示中的重要性。
  TFT LCD技术是半导体微电子技术和液晶显示技术巧妙结合的高新技术。TFT阵列是将液晶显示大尺寸玻璃板工艺和微电子精细加工技术相结合。第4代TFT LCD生产线可生产玻璃板尺寸1m×1m以上,加工精细5μm,近107个TFT平面阵列,完整性一般要求106个 TFT中不合格的TFT小于3个。尽管要求苛刻,工艺流程长、复杂,但现已实现了整个阵列生产线全部自动化。简化阵列工艺流程,生产技术逐步走上成熟,一般合格率达95%以上。本文叙述了TFT LCD工业生产以来,技术进步、显示品质的改善、今后技术发展趋势及应用目标。
    TFT LCD结构和工作原理
  平板显示一般采用行、列电极交叉构成的点阵显示方式。如n个行电极和m个列电极交叉构成n×m个像元,以n+m个电极控制n×m个像元得到任意文字、图形、图像。用时间分割多路驱动时,选通电压必须高于液晶电光特性阈值电压,在非选通像元上分布电压要求低于阈值电压,才能保证显示对比度。实际上,逐行扫描寻址时,有时同一行大部分像元同时被选通,引起交叉干扰,使非选通像元电压超过阈值电压,产生交叉效应。为了克服交叉效应,可采用平均偏压法,使在所有非选通像元上均匀施加低于阈值的电压,保证均匀底色和对比度。由于TN和STN模式没有存贮性能,因此用窄脉冲多次驱动的平均电压法,可以利用液晶积累效应实现显示。

    要获得大信息容量、高对比度显示,应采用有源矩阵显示方式,每像元附加开关元件或非线性元件,如二端式元件:二极管、MIM(金属-绝缘-金属)、非线性电阻等,其中MIM有源矩阵有小批量生产。三端式元件中TFT(薄膜晶体管)是主要代表,也是有源矩阵显示中主导元件。
  TFT工作原理:TFT器件和MOS器件的工作原理一致,{wy}的区别为MOS器件的半导体材料是单晶,TFT的半导体材料是薄膜材料。图2为n沟道增强型MOS器件的截面图。栅压Vg=0时(图2(a)),未形成反型层,两边n+区作成源、漏极,栅极和半导体本体之间有栅极绝缘层。当栅极正向电压VG>Vth时,形成如图2(b)所示的源、漏电极连通的反型层(n型沟道),使源、漏极导通。当VG=0或负电压时,反型层xx,源、漏极断开。漏电极与ITO像元电极连结,源电极与源线(列电极)相连结,栅极与栅线(行电极)相连结。

    模块由彩色TFT LCD屏、背照明单元及周边驱动电路构成。彩色TFT LCD屏是由TFT阵列玻璃板和彩色滤光膜玻璃板之间夹心液晶材料组成的。为了控制液晶层厚度,在液晶层内分散分布玻璃(或塑料)微球,两个玻璃板表面涂布取向层,控制液晶分子定向排列。上下基板对位精度要求彩膜板的黑矩阵正好对准ITO像元电极的边缘。背照明单元由侧面冷阴极灯(灯直径1.5~2mm) 和导光板组成,导光板背面和侧面贴反射膜,导光板正面贴塑料透镜膜和漫射膜,使照明更均匀。用TAB(tape automated bonding:自动焊接柔性线路板带)方式以ACF(anisotropic conductive film:各向异性导电胶膜)将屏和TCP(tape carrier package:装载驱动IC的柔性引线带)连结,TCP另侧与装载控制电路线路板焊接。

    TFT LCD像元有存贮特性,存贮时间长短取决于TFT关态电阻和液晶像元电容、存贮电容的RC常数。因此,TFT LCD驱动方式不同于TN-STN。驱动脉冲电压如图4所示。开通TFT,并在短时间内充电,要求TFT开态电阻ron要小,但放电时间大于帧周期17ms(60Hz)。对VGA显示,扫描行数480线,行寻址时间(或脉宽TW)为35μs,行回扭时间为行周期的16%。当像元电容C=1pF时,ron<5.6×106Ω。在TFT关态内存贮信号遗漏5%时,roff>3.3×1011Ω。这说明应要求TFT开关比在105以上。然而,TFT性能受温度影响,在实际应用中,开关比应达到106以上。为了保证液晶材料寿命,用交流电压脉冲驱动液晶屏应每帧反转电压极性。

    TFT LCD技术的发展
  TFT LCD产品从投放市场到现在仅7~8年的时间,但其技术发展速度和规模扩大速度可以与微电子技术发展相比,从1969年4位微处理机到奔腾Ⅱ微处理机是xx尔定律发展的,每隔18~24个月,芯片上晶体管数目增加2倍。TFT LCD由1991年{dy}代生产线到现在3.5代生产线,其分辨率己由CGA(320×200)提高到UXGA(1600×1200),其发展速度超出摩尔定律的速度。
  以1991年VGA(640×480),26.4cm(10.4英寸)TFT LCD产品为例说明技术发展和显示品质的提高。a)功率:1991年26.4cm(10.4英寸)TFT LCD功率为10W,现在降到约1W。主要改进了背照明,由原来2只灯改为1只灯,灯管直径4mm改为1mm。在笔记本电脑液晶显示中灯功耗占主要比例。同时由于驱动电路LSI的改进,电源电压由5V降到3.5V;b)重量:1991年26.4cm(10.4英寸)TFT LCD重量约1000g,现在140g。由于玻璃板厚度由1.1mm改成0.7mm,模块边框架铁质换成铝合金,器件厚度由12mm减薄到3.5mm。
  笔记本电脑画面增大,由26.4cm(10.4英寸)发展到28.7cm(11.3英寸),30.7cm(12.1英寸),33.8cm(13.3英寸),35.8cm(14.1英寸)等,监视器屏尺寸38.1~50.8cm(15~20英寸)。日本夏普公司今年开始推售50.8cm(20英寸)TFT液晶彩色电视,年底将销售76.2cm(30英寸)TFT液晶彩色电视,声称到2005年日本将CRT电视改成TFT LCD电视。表1列出近几年的TFT LCD屏尺寸和分辨率(dpi:dots per inch),dpi表示每英寸像元数。表1中QXGA 26.4cm(10.4英寸)TFT LCD时,dpi为307,像元尺寸约83μm。

    1)开口率:开口率指TFT LCD屏光透过部分和不透过部分面积之比。透光部分是ITO像元占有面积,其余部分是不透光部分,即彩色滤光膜中黑矩阵占有面积。开口率越大,亮度越高。
  开口率与栅和源总线宽度、TFT尺寸、上下基板对盒精度、存贮电容尺寸及黑矩阵尺寸等有关。
  a)为避免对盒精度引起开口率的降低,提出了黑矩阵做在TFT阵列板上[6,7]及彩膜也做在TFT阵列板上[8]的方法,此方法不仅避免了对盒精度引起开口率下降,而且解决了液晶层厚度引起的视差问题。黑矩阵框做得很窄,提高了开口率,但TFT阵列和彩膜工序集中到一块基板上,成品率会降低。
  b)栅、源总线微加工基本上借用集成电路微加工技术。图5表示集成电路和TFT阵列微加工技术发展趋势。70年代集成电路微加工为10μm,现在发展到0.2μm。90年代初TFT阵列微加工约10μm,开口率为35%,微加工5μm时,开口率提高到80%[9]

    c)自对准光刻技术:栅极和源、漏极重叠形成寄生电容,此寄生电容(Cp)起因于图4所示的馈入电压ΔVp

ΔVp=Vg×Cp/(Cp+Cs+CLC)(5)

其中Vg为栅极电压,Cs为存贮电容,CLC为液晶电容。由于馈入电压ΔVp使正向和反向电压不对称,产生直流电压,影响液晶寿命和闪烁等。为了xxCp,用自对准光刻技术,栅电极作为掩膜版,光刻n+a-Si和源、漏电极,由于基板玻璃厚度引起视差,栅、源电极之间仍有些重叠。图6(a)、(b)分别为常规方式和自对准方式光刻。图7为xx自对准TFT结构,沟道和源、漏极之间与离子注入的n+a-Si连结,xx了Cp,同时提高了开口率,与常用TFT结构相比,开口率增加约5~6%,其结果如图8所示。图8表明,像元间距为0.24mm,a-Si迁移率为0.9cm2/Vs时,常规式和自对准式对开口率影响的差别更大。

d)栅、源线材料:为了增加开口率,应尽量将总线宽度取小,但要考虑总线电阻过大,输入信号延迟,驱动不充分,降低对比度的问题。通常采用以Cr或MoTa金属包Al方法,这样既可得到低电阻的总线,又能防止高温工艺过程中铝球形成。
  e)像元遮蔽(FSP:field shield pixel)技术:FSP结构见图9,将低介电常数感光胶涂在TFT和像元上,然后制作如图9所示的ITO像元电极,这样ITO像元电极做到TFT上面,开口率增加了5%,最终开口率可达到80%。

2)宽视角技术:液晶分子的各向异性决定了液晶分子空间分布不同,不同立体角光透过率不同而造成显示对比度不均匀。因此,扩大视角是液晶显示技术的主要课题。下面介绍几种扩大视角技术:
  a)补偿膜技术:在上贴光漫射膜和光补偿膜,使通过液晶屏的光均匀漫射与某些角度光强补偿;同时贴上准直膜,准直膜由几种透镜膜组成,使光平行照射到液晶屏。应用于液晶屏上各种光学补偿膜的结构如图10所示,通过这些补偿膜扩大视角和提高显示亮度。

    b)多畴技术:在像元内划分两个以上不同液晶分子定向排列的区域,形成多畴液晶分子取向,使视角扩大。多畴技术分平行排列多畴和垂直排列多畴。平行排列多畴技术:用光刻胶保护法,{dy}次摩擦形成右倾斜平行排列,然后由光刻胶保护右侧部分,第二次摩擦方向与{dy}次摩擦方向相反,得到左倾斜的平行排列。图11(a)、(b)分别表示双畴工艺和双畴像元的等对比度曲线。在水平方向上对比度对称性好,明显改善了视角特性。

    此外,TFT LCD制造工艺中曝光分辨率由4μm提高到2μm,刻蚀精度由1μm提高到0.5μm,成膜均匀性由±10%提高到±5%,对盒精度由2μm提高到1μm,显示亮度达到1600cd/m2,甚至在太阳光下能看清楚显示图像,显示品质不断完善和改进。

    技术发展的要求
  尽管TFT LCD品质与CRT显示品质相媲美,并得到广泛应用,但仍没有充分发挥LCD的特点,若在反射式彩色显示技术、低温p-Si生长技术等方面有突破性进展,才能实现用太阳能电池作为LCD电源。现有笔记本电脑发展成纸张式网络电脑,将周边驱动电路,甚至信息处理系统(CPU、ROM、RAM等)集成在TFT LCD屏上,如图14所示的信息处理系统集成在屏上。人们随时随地交流信息,将改善人们生活质量,提高工作效率。

    1)反射式彩色液晶显示技术:无背照明系统的反射式彩色LCD有几种方案,本文介绍Itoh等人[12]提出的微反射结构(MRS)TFT LCD。其显示器结构和性能分别表示于图15与表2。反射彩色得到26万种颜色,功耗为同样尺寸背照明显示器的1/7~1/10,又轻又薄。反射式彩色LCD技术尚未完善,还存在反射率低、色度随视角变化等问题。

    2)低温p-Si生长技术:由于a-Si迁移率(0.3~1cm2/Vs) 低,a-Si TFT不能用于周边驱动电路,也不适合于高开口率、高分辨率显示。p-Si迁移率比a-Si迁移率大2个数量级以上,适合用于周边驱动电路,甚至用于 CPU、ROM、RAM等器件。用p-Si TFT做周边驱动电路、信息处理系统并集成到TFT 屏上,关键技术是在玻璃板或塑料板上生长p-Si。这几年发展低温p-Si技术,如有低压CVD技术、金属诱导生长p-Si技术以及准分子激光退火技术。其中激光退火技术开始应用于工业化生产[13]。此外,需要发展离子注入技术、反铁电液晶“V”字形电光效应、高精细加工技术等。

    

    

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