红外热射显微镜术参数_Optotherm IS640热射显微镜系统-立特为智能    咨询電话：15219504346      

红外热射显微镜术参数_Optotherm IS640热射显微镜系统-立特为智能话：15219504346 （温先）

关键词：  Optotherm IS640 SENTRIS，Thermal Emission Microscope system

1. 它的应非常广泛，去封装的芯片，未去封装的芯片，容，FPC,甚小尺寸的路板（PCB、PCBA）,这也就让你可以在样品的不同阶段都可以使thermal术进，如下图示例，样品路板漏定位到某QFN封装器件漏，将该器件拆下后现漏善，该器件焊引线来，未封定位为某引脚，封后针再做，进一步确认为晶圆某引线位置漏导致，如有需要可接着做SEM,FIB等。

未封器件

封器件

2. 它能测的半导体缺陷也非常广泛，微安级漏，低阻抗短路，ES击伤，闩效应点，属层部短路等等，而容的漏和短路点定位，FPC,PCB,PCBA的漏，微短路等也能够xx定位

lock-in相

封芯片漏

GAN-SIC器件

3，它是无损：为日常的失效，往往样品量稀少，这就要求失效术{zh0}是无损的，而于某些例如陶瓷容和FPC的缺陷，虽然测能测存在缺陷，但是具体缺陷位置，市的无损如XRAY或超声波，却很难进定位，只能通过样品进破坏性切片，且只能随机挑选位置，而通过Thermal 术，你需要的只是给样品，就可以述两种缺陷进定位

FPC缺陷

容缺陷

4,相热成像（LOCK IN THERMOGRAPHY）：相术，将温度分辨率高到0.001℃，5um分辨率镜头，可以测uA级漏流和微短路缺陷，远由于传统热成像及液晶热点测法（0.1℃分辨率，mA级漏流热点）

5，系统能够测量芯片等微观器件的温度分布，了一种速测热点和热梯度的有效手段，热分布不仅能显示缺陷的位置，在半导体领域

在集成路操期间，内部结加热导致接处的热量集中。器件中的峰值温度处于接处本身，并且热从接部向外传导到封装中。因此，器件操期间的xx结温测量是热表征的组成部分。

芯片附着缺陷可能是由于诸如不充分或污染的芯片附着材料，分层或空隙等原因引起的。Sentris热工具（如 图像序列）可于评估样品由内到外的热量传递过程，以便确定管芯接的完整性。

OPTOTHERM Sentris 热射显微镜系统为一台专为缺陷定位的系统，专为子产品FA设计，通过特别的LOCK-IN术，使LWIR镜头，仍能将将温度分辨率升到0.001℃（1mK），同时光学分辨率{zg}达到5um,尤其其系统经过多年的优化，具有非常易和实，以下是OPTOTHERM Sentris 热射显微镜系统过程的说明视频

LEADERWE (‘Leaderwe intelligent international limited ‘and ‘ShenZhen Leaderwe Intelligent Co.,Ltd‘)为Optotherm公司中国表（独理），在深圳设立optotherm红外热应实验室，负责该设备的演示和售，如有相关应，可免费评估测试。

深圳市立特为智能有限公司LEADERWE立为括立为智能国际有限公司和深圳市立特为智能有限公司，是一专子、材料等领域及检测设备的综应商！

LEADERWE 立为拥有一批有着丰富经验的售人员以及专的人员，不仅为您xx实的设备，更能为您完整的方及相应的应术支持。

历经多年耕耘，已获北京大学、富士康、华为、步步高、方正、美维、新能源等等超过两多客户的赖与认可。

xx适的设备，前沿{lx1}的术，高效热的，LEADERWE 立为努力成为广大客户最赖的科学设备应商，愿与我们的应商及客户共谋展、共同迎接机遇与挑战。

中国主要办事处：深圳、香港、肥。

深圳市立特为智能有限公司

联系人：温先

手机：15219504346

QQ：305415242

固话：0755-21035438

邮箱： 

地址：深圳龙华区五和大道锦绣科学园11栋225
红外热像仪检测散热效率
红外热像仪是一种采非接触式测温的设备，通过物体表面的热分布成像和，可迅速准确地现物体的热缺陷。在子和半导体的温度分布、功耗设计和研究、散热效果、PCB布局优化、维修检测等方面，灵活使红外热像仪，研人员能显著高散热设计各个环节的工效率。
红外热像仪在使时有如下特点：
1）非接触，不担心触风险；
2）“看见”热，比经验和直觉耗时更少，定位更准确
3）“看”小物体的热成为可能
一、速评估热负载
红外热像仪可产品的温度分布清晰直观成像，帮助研人员精准评估热分布，定位热负荷过大区域，让后续的散热设计更有针性和目的性。
二、散热方评估验證
设计阶段会有很多种散热方，红外热像仪可帮助研人员速、直观地评估不同散热方效果，从而确定术方。
三、散热材料选择
确定散热方后，研人员需应商的不同规格的散热材料进测试筛选，达到散热指标和成本的均衡。比如在手机等子产品中，通常会使铝箔贴片、石墨散热薄膜等柔性导热材料于散热，这些材料不同的品、工艺和规格，散热效果也会不一样，红外热像仪，研人员可速评估散热效果，综虑性能指标和成本确定适的材料。由iPhone和小xx的石墨散热膜有效的解决了高性能的散热问题，并成为新的研究和投资热点。
红外热射显微镜术参数_Optotherm IS640热射显微镜系统-立特为智能机器说到养巧，我们首先要做的就是学会正确使机器。要知道，如果不知道怎么使和操，总有{yt}会被我们玩坏的。比如说，调整焦距之前，要在红外图像储蓄之后再，红外热射显微镜术参数_Optotherm IS640热射显微镜系统-立特为智能虑，这个变量我们称之为射率（或射的趋势）。一个物体的射率受到材料本身、表面状态、射率和不透明度的影响。射率常常会使测温变得复杂。因此，理解射率的概念，红外热射显微镜术参数_Optotherm IS640热射显微镜系统-立特为智能外热像仪的照速度或“时间常数”一般为8-12ms。但这并不意味着传感器像素点以每8-12ms进读取，而是测器热成像的时间是8-12ms。一般的经验是：处理，红外热射显微镜术参数_Optotherm IS64