红外成像显微镜参数_optotherm红外热显微镜-立特为智能话：15219504346 （温先）

关键词：  Optotherm IS640 SENTRIS，Thermal Emission Microscope system

1. 它的应非常广泛，去封装的芯片，未去封装的芯片，容，FPC,甚小尺寸的路板（PCB、PCBA）,这也就让你可以在样品的不同阶段都可以使thermal术进，如下图示例，样品路板漏定位到某QFN封装器件漏，将该器件拆下后现漏善，该器件焊引线来，未封定位为某引脚，封后针再做，进一步确认为晶圆某引线位置漏导致，如有需要可接着做SEM,FIB等。

未封器件

封器件

2. 它能测的半导体缺陷也非常广泛，微安级漏，低阻抗短路，ES击伤，闩效应点，属层部短路等等，而容的漏和短路点定位，FPC,PCB,PCBA的漏，微短路等也能够xx定位

lock-in相

封芯片漏

GAN-SIC器件

3，它是无损：为日常的失效，往往样品量稀少，这就要求失效术{zh0}是无损的，而于某些例如陶瓷容和FPC的缺陷，虽然测能测存在缺陷，但是具体缺陷位置，市的无损如XRAY或超声波，却很难进定位，只能通过样品进破坏性切片，且只能随机挑选位置，而通过Thermal 术，你需要的只是给样品，就可以述两种缺陷进定位

FPC缺陷

容缺陷

4,相热成像（LOCK IN THERMOGRAPHY）：相术，将温度分辨率高到0.001℃，5um分辨率镜头，可以测uA级漏流和微短路缺陷，远由于传统热成像及液晶热点测法（0.1℃分辨率，mA级漏流热点）

5，系统能够测量芯片等微观器件的温度分布，了一种速测热点和热梯度的有效手段，热分布不仅能显示缺陷的位置，在半导体领域

在集成路操期间，内部结加热导致接处的热量集中。器件中的峰值温度处于接处本身，并且热从接部向外传导到封装中。因此，器件操期间的xx结温测量是热表征的组成部分。

芯片附着缺陷可能是由于诸如不充分或污染的芯片附着材料，分层或空隙等原因引起的。Sentris热工具（如 图像序列）可于评估样品由内到外的热量传递过程，以便确定管芯接的完整性。

OPTOTHERM Sentris 热射显微镜系统为一台专为缺陷定位的系统，专为子产品FA设计，通过特别的LOCK-IN术，使LWIR镜头，仍能将将温度分辨率升到0.001℃（1mK），同时光学分辨率{zg}达到5um,尤其其系统经过多年的优化，具有非常易和实，以下是OPTOTHERM Sentris 热射显微镜系统过程的说明视频

LEADERWE (‘Leaderwe intelligent international limited ‘and ‘ShenZhen Leaderwe Intelligent Co.,Ltd‘)为Optotherm公司中国表（独理），在深圳设立optotherm红外热应实验室，负责该设备的演示和售，如有相关应，可免费评估测试。

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显微热成像术研究现状与展望
显微热成像系统不仅能观测物体的形状细节，还能观测温度变化的细节，因此需要进细微热的领域具有重要。本文显微热成像术研究的背景和意义进了概括，简介绍了显微热成像系统的组成及工过程，总结了显微热成像术国内外展研究及应的现状，{zh1}其存在的问题及展动态进了。
20世纪90年以来，随着軍|事领域夜视和恶劣环境条件下战的强烈需求，热成像术得到迅速展。然而这些热成像系统大多为望远工模式，但一些实际应中常常需要采光学放大的显微模式，以样品的细微温度分布。与可见光显微镜相比，红外显微热成像系统除了能观测物体的形状细节，还能观测温度变化的细节。而物体的物理化学变化70%与温度有关，红外显微热成像系统温度特有的敏感性可详细观测、记录细微目标的变化历程，因此于纳术、化术、因术、微子术、材料科学等领域的研究具有非常重要的。
显微热成像术于微子器件（如路组件、印路板等）可靠性以及缺陷检测以高器件及其可靠性设计平。
显微热成像术于科学研究和公安刑领域，为科人员新的工具及术手段[4-3]。
在物悘学断中显微热成像术可为癌细胞的断与长术手段[6-]。在热物理础研究中，动态显微热成像术xx常直观地观察和研究微区域热扩散和热传导等现象。在材料科学领域研究中，可于检测铝、钢等材料的应力疲劳失效。图3和图4是显微热成像术的典型应。鉴于显微热成像术在实际应的广泛需求，其进深入的研究和具有重要的现实意义。
2显微热成像系统组成及工过程显微热成像系统由冷（非冷）焦平面热成像组件、红外显微物镜、图像采集、非均匀校正模块、显微热图像处理系统、系统支架、升降台、平移台及源组成。还可以加印机，视频监视器等外围设备。
显微热成像系统的工过程是：物体的红外辐射图像通过红外显微物镜成像于冷（非冷）焦平面测器组件，通过测器组件将辐射图像转换为子图像，并标准视频输；经图像采集将标准视频热图像号采集到计算机中，形成数字图像；通过非均匀校正处理系统数字图像进非均匀校正处理，并可进一步由显微热图像处理系统进后续的显示、、存储和处理。
国内外展研究现状与展动态

近20年来，国外现了不同类型的显微热成像产品。InfraScope显微红外热像仪是目前世界较新型和先进的一种型号，它通过接收被测样品的红外辐射，修正辐射系数，测样品表面的温度分布，可于子元器件、路的热失效。