精密化学、生物医药、精细化工、精密仪器等领域对温度控制精度的要求极高,而温度控 制的核心正是温度测量.采用铂电阻测量温度是一种有效的高精度温度测量方法,但具有以下难点:引线电阻、自热效应、元器件漂移和铂电阻传感器精度.其中, 减小引线电阻的影响是高精度测量的关键点.对于自热效应,根据元件发热公式P=I2R,必须使流过元件的电流足够小才能使其发热量小,传感器才能检测出正 确的温度.但是过小的电流又会使信噪比下降,精度更是难以保证.此外,一些元器件和仪器很难满足元器件漂移和铂电阻传感器精度的要求.

　 　易先军等提出了以铂电阻为测温元件的高精度温度测量方案,解决了高精度测量对硬件电路的一些苛刻要求问题,但是精度不佳(±0.4 ℃);杨彦伟提出了以MAX1402、AT89C51和Pt500铂电阻设计的精密温度测量系统方案解决了基本的高精度问题,但是系统功耗大,精度仍然不 佳;李波等提出采用以负温度系数热敏电阻为核心的高精度测量方案,较好解决了高精度的问题,但是xxx不高,实施效果不佳,测温分辨率能达到0.01℃, 测温准确度只达到O.1℃.这里提出采用三线制恒流源驱动方案克服引线电阻、自热效应,利用单片机系统校正控制方案实现元器件漂移和铂电阻传感器精度校 准,xx在上位机中采用MLS数值算法实现噪声抵消,大大提高了温度测量精度和稳定度.