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xx杂质分析质谱最新应用方案

赛默飞世尔    2015/4/7  

xx杂质的定义为xx中存在的,化学结构与该xx不一致的任何成分。xx中含有杂质会降低疗效,影响xx的稳定性,有的甚至对人体健康有害或产生其他毒副作用。因此,检测有关物质,控制xx纯度非常重要。


有机杂质分析难点:

有机杂质在成品xx中含量通常很低,制备纯化需要消耗大量人力物力,常规分析方法难以应对多组分、低含量的杂质结构解析工作。


用于杂质鉴定的主要液质技术及特点:

  • 离子阱质谱仪,因其灵敏的MSn能力,复杂样品的高通量常规分析,快速正负离子切换技术,被广泛的应用于xx杂质研究。

  • 静电场轨道阱质谱仪,可以准确地测得杂质的xx质核比,计算出杂质的元素组成,具备复杂基质中痕量杂质的分析能力。


分析流程——xx杂质


分析流程——可提取物与浸出物


应用资料:

LTQ Orbitrap多种碎裂方式对小分子xx的鉴定

下载地址:

www.thermo.com.cn/Resources/201403/2014132796.pdf

使用台式高分辨Q Exactive同时快速测定xx组分中三聚氰胺及其类似物
下载地址:

www.thermo.com.cn/Resources/201403/20141623281.pdf

使用台式高分辨质谱Q Exactive对霉酚酸酯降解杂质谱的分析
下载地址:

www.thermo.com.cn/Resources/201403/20141744953.pdf

双压线性离子阱多种解离技术对阿德福韦酯杂质谱的全面鉴定
下载地址:

www.thermo.com.cn/Resources/201403/20141840156.pdf


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www.thermo.com.cn/Category410.html


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