LWD200-4XB 金相显微镜 LWD200-4XB 金相显微镜 产品概述：
倒置型 LWD200-4XB 金相显微镜适用于金相学、冶金学专业实验室的研究。并广泛应用于集成电路IC行业、电子半导体业。也可用于鉴别和分析各种金属和合金的组织结构，可广泛地应用在工厂或实验室进行铸件质量的鉴定，原材料的检验或对材料处理后金相的研究分析等工作。本仪器可配用摄影装置进行显微摄影。
技术参数：
1.物镜：
类别 放大倍数 数值孔径
N．A 系统 工作距离
（mm）
消色差物镜 10X 0.25 干 7.32
半平场消色差物镜 40X 0.65 0.66
消色差物镜 100X 1.25 油 0.37
2.目镜
类别 放大倍数 视场直径（mm）
平场目镜 10X 18
12.5X 15
3.摄影目镜：（选购件）：1X，0.44X
4.观察方式：4XI单筒目镜
4XB双筒目镜
