微焦点X-RAY半导体检测仪器 芯片X-RAY微焦检测系统
¥：368000.00
微焦点X-RAY半导体检测仪器 芯片检测
X-RAY微焦检测系统
XDR-1600W X射线检测系统应用于封装电子组件、贴片元器件和芯片的高分辨率检测。
该机型采用了微焦点X射线管和高分辨率成像系统，能满足航天、航海、电子制造、生物研宄等领域内的检测应用的要求。
技术参数：
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出厂： |
ANZHU |
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型号： |
XDR-AZ1600W； |
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数字成像视场: |
160x130mm（不同面积可订制) |
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像素间距 |
49um（高分辨率成像系统） |
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A/D转换； |
16/bits |
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几何放大倍数； |
高达1000； |
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放大倍率； |
高达2000；微焦配置； |
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微焦光管； |
进口光管5-15um； |
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管电压； |
40-120 kV； |
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管电流 |
0.2-1.0ma； |
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操作台上下间距： |
200-600mm |
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机械操作台 |
左、右、前、后、上、下； |
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机械操作台软件 |
软件数控调节模似； |
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检测区 |
160x130mm(尺寸可选) |
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操作台承重量 |
10kg |
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操作辅助 |
自动/手动 |
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图像处理软件 |
X射线检测图像软件，图像增、测量； |
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设备尺寸（长x宽x高） |
1360mmx800mmx700mm |
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电脑系统: |
windows10；联想21/25吋 |
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仪器重量: |
380kg |
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适配器输出电压 |
DC24V |
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交流电源频率: |
50-60hz； |
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远程控制: |
远程操作软件 |
