CME-EL电致发光外量子效率测量系统
面议
CME-EL电致发光外量子效率测量系统（EQE)是一种紧凑，操作便捷，可在手套箱内完成搭建。发光材料的特征体现在它们的荧光量子产率。对于诸如有机和无机LED的发光器件，相应的物理特征表现值是外量子效率，通常通过电致发光（ELelectroluminescence）方法测量。
主要特点:
l可以测量L(cd/m2)、LmEff(cd/A)、EQE和CIE1931；
l光谱仪系统采用制冷型CCD信噪比高、杂散光低；
l体积小巧：便于灵活使用及运输；
l坚固、紧凑的设计，可以***限度减少实验室空间；
l专业软件，操作简单；软件显示：J-V曲线、L-J曲线、LmEff-J曲线、EQE-J曲线、CIE1931 XYGraph曲线。
技术参数
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光谱仪 |
型号 |
CME-QE2000（可选） |
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光谱范围（nm） |
300-1100nm |
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光谱仪分光元件 |
全息成像光柵 |
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感光元件 |
电子冷卻型CCD影像感测器 |
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信噪比 |
1000:01:00 |
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分辨率 |
2.5nm(FWHM) |
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积分球 |
尺寸 |
100mm |
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涂层材质 |
Sperctralon |
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源表 |
型号 |
Keithley2400 |
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光纤 |
芯径 |
800um |
