DHTS3系列 高低温冲击试验箱（三箱式）
面议
多禾试验doaho®️欧洲研发中心推出DHTS3系列，超紧凑的设计，特别适合实验室，高校，研究所等场所。DHTS3系列高低温试验箱运用DHSPLCON技术将高低温冲击试验箱使用寿命大大延长至25年以上。多禾试验，成型于欧洲，产销于国内，品质{zy1}，价格亲民。DHTS3系列试验箱为电子、电工、仪表、零部件、材料等试验样品提供稳定的高低温试验冲击试验环境。可用于测试材料或元器件在瞬间的高温或低温连续的环境下物理性能的可靠性，也可以用于环境应力筛选（温度循环）、高/低温环境适应性和可靠性试验，对各种大型电工电子产品用于发现早期故障、模拟实际温度与快温变环境
和考核产品耐受温度的能力。
温度冲击试验箱分为两种类型：两厢式、三厢式。主要的区别在于试验方法、样架移动方式及内部结构，可适用于多种使用条件及不同行业用户的需求。
特点
双层大视窗设计，飞利浦高亮度照明
操作方便：采用彩色液晶触摸屏，设定、显示各种运行数
记录量大：实时记录大量采样数据，并可实现在 PC机上打印曲线。
高可靠性：为提高整机的可靠性，主要部件全部由各xx专业厂商提供。
安全保护：温度过升保护，试品保护，设备自身保护，操作人员安全保护。
技术参数
型号
DHTS2-70
DHTS2-100
DHTS3-70
DHTS3-100
DHTS2 Upgrading
容积
L
70
100
70
100
Customised
测试区
2
2
3
3
2
高温室温度范围
℃
﹢50/﹢220
﹢50/﹢220
﹢50/﹢220
﹢50/﹢220
﹢50/﹢220
测试区温度范围
℃
-
-
RT
RT
-
低温室温度范围
℃
-70/-10
-70/-10
-70/-10
-70/-10
-70/-10
温度波动度
℃
±0.3~±1.0
±0.3~±1.0
±0.3~±1.0
±0.3~±1.0
±0.3~±1.0
温度均匀度
℃
±0.5~±2.0
±0.5~±2.0
±1.0~±2.0
±1.0~±2.0
±1.0~±2.0
温度恢复时间
Min
<15min
<15min
<15min
<15min
带载
带载
带载
带载
<5min
<5min
<5min
<5min
<2 min
出风口测量
出风口测量
出风口测量
出风口测量
出风口测量
工作室尺寸 (mm)
W
460
460
460
460
定制
D
410
650
410
650
定制
H
370
370
370
370
定制
外形尺寸(mm)
W
750
750
1600
1600
定制
D
1190
1330
1750
2250
定制
H
2260
2260
1620
1620
定制
{zd0}负载
Kg
20
50
20
20
50
噪音
dB(A)
58
60
65
70
/
符合标准
DHTS2-70
GB/T 2423.22-2002
DHTS2-100
MIL STD 883 E,Method 1010.7,intensity
A,B,C,D,F
MIL STD 810 E，Method 503
MIL STD 202F,Method 107 G
IEC 60068-2-14，Test Na
DHTS2 升级款
IPC-TM-650 TEST METHODS MANUAL
DHTS3-100
MIL STD 883 C,Method 1010.5,Intensity
A,B,C,D,G
MIL STD 810 D,Method 503.2
MIL STD 202 E,Method 107 D
电源
380V±10%，50Hz，3/N/PE
功率
KW
8.5
11
13
15
/
冷却方式
风冷
风冷
水冷
水冷
水冷
执行与满足标准及试验方法
其他：
使用环境温度：+5～+35℃ (降温保障+5～+28℃)
安全配置：漏电保护、短路保护、压缩机超压保护、压缩机过载保护、风机过载保护、超温保护、相序/缺相保护
附件标准配置：
照明灯*1
AISI304样品架：样品提篮1个
通讯方式： USB（标配）
圆形脚轮 4只
选配
以太网/ /CF/SD 存储卡RS485/232
GB11158-2008 高温试验箱技术条件
GB10589-2008 低温试验箱技术条件
GB10592-2008 高低温试验箱技术条件(温度交变)
GB/T2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温 IEC 60068-2-1:2007
GB/T2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温 IEC 60068-2-2:2007
GB/T2423.22-2002电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化 IEC 60068-2-14:1984
GJB150.3A-2009 xx装备实验室环境试验方法 第3部分: 高温试验
GJB150.4A-2009 xx装备实验室环境试验方法 第3部分: 低温试验
