欢迎选择X荧光轻元素分析仪，请认准北京安科慧生科技有限公司。
轻质量数（氟F-氯Cl）范围的元素由于外层电子密度低，X射线激发元素特征线效率低，荧光产额少，是X射线荧光检测比较困难的元素范围，传统的XRF分析轻元素难以达到较好的检出限。
高灵敏度X射线荧光光谱仪采用高通量双曲面弯晶专利技术，全聚焦型双曲面弯晶仅衍射X射线光管出射谱中的高强度特征X射线，从而入射到样品的X射线具有很好的单色性，因此从样品出射的X射线除了样品中的元素被激发产生的荧光X射线（线光谱）和单色入射线的瑞利散射和康普顿散射以外，不存在连续线散射背景，从而保证待测元素特征线具有极低的背景干扰。被激发的元素的荧光X射线使用{zx1}SDD（硅漂移探测器）检测，从而得到对特定范围内元素的高分辨和高灵敏度的分析。
设计理念：
? 单色激发X射线源：极大降低X射线管出射谱中散射线背景，元素荧光干扰小，信噪比提高。sunadanchorwisdom
? 小型化：50 W X射线管，无溶剂、气体、冷却等消耗，可移动检测。
