MINITEST720涂层测厚仪性能特点
德国EPK MINITEST720涂层测厚仪
-创新的SIDSP（探头内部数字信号处理）技术提升了测量的xx性
-测量范围达15mm，可更换F、N或FN探头，供内置或外接探头使用
-FN探头自动识别F（铁磁性）或N（非磁性）基体，操作方便不易出错
SIDSP技术-全球{zx1}技术，智能数字化的涂层测厚探头
模拟信号处理时代已成过去，数字信号处理将成为未来的趋势
什么是SIDSP？
SIDSP是由ElektrPhysik（简称EPK）研发的，{sjlx}的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。
SIDSP即探头内部数字信号处理，这项技术使探头在测量时，同时在探头内部将信号xx处理为数字形式。SIDSP探头xx依据世界{dj1}技术生产。
MINITEST720涂层测厚仪SIDSP工作原理？
跟传统技术不同，SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号，回传的信号经过32位数字转换和处理，带给您xx的涂层厚度值。此项{jd0}的数字处理技术，同时应用在现代通讯技术（手机网络）方面，如数字滤波器，基带转换，平均值，随机分析，等等。此项技术能获得与模拟信号处理无可比拟的信号质量和xx度。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置。
SIDSP探头与普通模拟探头相比，具有决定性的优势，为涂层测厚设定了一个新的标准。
MINITEST720涂层测厚仪为什么选择SIDSP？
SIDSP探头具有极高的抗干扰性
任何与测量相关的信号，都由SIDSP在靠近探头顶部的位置进行处理。测量信号不会通过探头电缆传输时受到干扰，因为不再有测量信号的传输。探头电缆仅仅为探头供电，并传输数字化的厚度值到显示装置。即使您的测量工件需要特别长的电缆线也没问题，加长的电缆线同样具有极强的抗干扰能力。
SIDSP-测量信号高稳定性
EPK的SIDSP探头具有极高的重现性。将探头放在同一测量点测量几次，每次您都可以得到基本一样的结果，再次证明了SIDSP探头的{yx}性能。
