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HP4291B射频阻抗/材料分析仪是针对表面封装元器件和介电/磁性材料的高精度测量的完整解决方案。与反射测量技术不同，Agilent 4291B使用直接的电流－电压测量技术，可在广泛的阻抗范围内提供更xx的阻抗测量结果。
HP4291B射频阻抗/材料分析仪规格简介：
4个元件测试夹具（被测件尺寸：0.5 mm至20 mm）
独立选择2个通道的参数
直接读取介电常数、导磁率（选件）
2个材料夹具（工作温度：-55至+200摄氏度）
多功能分析（温度、科尔-科尔图表、松弛时间）
扫描参数（频率、交流电平、直流偏置、温度）
HP4291B射频阻抗/材料分析仪有2个测量通道；每一个通道都可设置为测量1个(即Z)或2个(即Z-theta)阻抗参数。具有分割显示的彩色TFT可显示有效示踪和存储器示踪(保存在RAM中)。内部软盘驱动器以LIF或MS-DOS格式保存程序和测试数据。有了内装IBASIC，您就能从Agilent 4291B直接控制恒温箱或园片这类外部测试设备，而不需要单独的仪器控制器。
HP4291B射频阻抗/材料分析仪能容易地进行全面的材料评估，提高材料评估的质量和效率。HP 4291B提供宽频率范围(1MHz至1GHz)介电/磁性材料测量的总体解决方案。
HP4291B射频阻抗/材料分析仪的基本阻抗精度是+/- 0.8%。高Q精度有利于进行低损耗元器件分析。内置合成器扫频范围从1 MHz到1.8 GHz，具有1 MHz的分辨率。1.8米长的精密电缆可将分析仪连接到测试站，以便您将测试点延伸到分析仪之外，而不会影响测量精度。先进的矩阵和错误补偿功能xx了夹具的测量错误，确保DUT/MUT的高精度和可重复性。
