SIR 13/SIR 13 mini 绝缘劣化特性评价装置(绝缘测试设备)
特性:
・ 能够完成3种测试:离子迁移、绝缘电阻、绝缘特性。
・ 所有通道都备有微电流计、对微电阻进行告诉(40ms/8通道)连续测试,准确扑捉瞬间发生的离子迁移现象(从发生到结束)。
・ 250V测试基板:8通道/1电源 {zd0}128通道;
500V测试基板:1通道/1电源 {zd0}64通道;
1000V测试基板:1通道/1电源 {zd0}64通道;
・ 120V测试基板:每通道都可以设定试验条件(加载电压、电流测定值)。
・ 可以对加载电压和测定电压任意设定,且切换时不会发生漏测定。
・ 拥有小型的SIR13mini,最多可以装配3块SMU测试基板。
主要技术规格:
加载电压 |
120V 250V 500V 1000V 直流电压 |
测试通道 |
250V为16通道/基板(最多128通道) 120V、500V、1000V为8通道/基板(最多64通道) |
离子迁移测试速度 |
40ms(8通道) |