SIR-13/SIR-13 mini 绝缘劣化特性评价装置

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    SIR 13/SIR 13 mini 绝缘劣化特性评价装置(绝缘测试设备)

    特性:

         能够完成3种测试:离子迁移、绝缘电阻、绝缘特性。

         所有通道都备有微电流计、对微电阻进行告诉(40ms/8通道)连续测试,准确扑捉瞬间发生的离子迁移现象(从发生到结束)。

         250V测试基板:8通道/1电源 {zd0}128通道;
    500V
    测试基板:1通道/1电源 {zd0}64通道;
    1000V
    测试基板:1通道/1电源 {zd0}64通道;

         120V测试基板:每通道都可以设定试验条件(加载电压、电流测定值)。

         可以对加载电压和测定电压任意设定,且切换时不会发生漏测定。

         拥有小型的SIR13mini,最多可以装配3SMU测试基板。

    主要技术规格:

    加载电压

    120V 250V 500V 1000V 直流电压

    测试通道

    250V16通道/基板(最多128通道)

    120V500V1000V8通道/基板(最多64通道)

    离子迁移测试速度

    40ms8通道)

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