【金埃谱科技】比表面仪北京比表面仪上海比表面仪

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    【金埃谱科技】比表面仪全自动比表面(积)分析测试仪服务热线:400-888-2667北京金埃谱科技有限公司F-Sorb X400系列比表面积分析测试(测定)仪是北京金埃谱科技公司与兵器系统研究机构合作研发的新一代产品,它是目前国内同类产品中{wy}能够xx实现测试过程自动化、智能化的产品,符合国际上现代化仪器制造标准和潮流,大大减轻了测试人员的工作量;相比国内外同类产品,多项独创技术的采用使产品整体性能更加完善,测试结果的准确性和一致性进一步提高,测试过程的稳定性更好。产品设计基于兵器系统高可靠性要求,通过采用合资或进口零配件,大大提高了产品可靠性和使用寿命;同时F-Sorb X400系列比表面积分析测试仪产品的高xxx有效保障了用户的投资利益,灵活的产品配置可满足不同用户的不同需求,可广泛适用于粉体颗粒类材料的比表面积及孔径分析测试及生产质量监测。 F-Sorb 1400采用快捷{gx}的连续流动法氮吸附测量原理,可进行直接对比法比表面积分析测试,该方法通过与已知比表面积标样脱附峰面积对比直接求得,无需实际标定脱附气体量多少,适用于与标准样品吸附特性相似的被测样品测试,国内大多用于碳黑样品测试,国外未见采用;其结果准确度因样品而异,样品与标样吸附特性相近时,测试结果准确性高,反之误差大。F-Sorb 1400主要应用于生产现场产品质量监控以及比表面积的快速测定。 测试方法:氮吸附连续流动法分析测定,直接对比法比表面积分析测试 测量范围:0.01(㎡/g)-至无上限(比表面积) 测试精度:测量重复性误差≤2% 样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等,适用于吸附特性与标准样品类似样品的比表面积分析测定 样品数量:可同时进行4个样品的比表面积分析测试 测试气体:高纯氦氮混合气(4:1) 测试时间:每样品每 P/P0点吸附和脱附平均时间为5分钟,比表面积结果自动由软件实时得出 测试压力:常压下进行,无需抽真空,有利于快速的比表面积分析测试 数据采集:高精度及高集成度数据采集及处理芯片,误差小,抗干扰能力强,有利于提高比表面积结果精度 数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化比表面积分析测试数据结果报表 控制系统:采用先进的控制技术,集中的多功能控制系统,实现测试过程的xx自动化,智能化,大大提高比表面积分析测定效率 国内同类产品中,{wy}xx实现测试过程自动化及智能化产品,告别繁琐的人工操作,大大降低测试人员工
    郑重声明:产品 【【金埃谱科技】比表面仪北京比表面仪上海比表面仪】由 北京市金埃谱科技有限公司 发布,版权归原作者及其所在单位,其原创性以及文中陈述文字和内容未经(企业库qiyeku.com)证实,请读者仅作参考,并请自行核实相关内容。若本文有侵犯到您的版权, 请你提供相关证明及申请并与我们联系(qiyeku # qq.com)或【在线投诉】,我们审核后将会尽快处理。
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