日本日置3445红外线测温仪/放射温度计的性能：
对应温度控制、管理的放射温度计
0.1分辨率，正确、非接触、快速测量/1.6s(95%)广范围温度
可使用于恶劣环境的防湿/防尘构造（IP54）
用3909接口卡，实现{gx}率PC计测
用专用软件（包含于3909），处理/管理数据
因用途可选择的3型号
温度的连续收集
HIOKI 3445红外线测温仪/ 放射温度计的基本参数
测量量程 -50～500°C（分辨率0.1°C）
测量精度 ±1%rdg.(200.1～500°C), ±2°C(0～200°C)
±10%rdg.±2°C(-50～-0.1°C)
响应时间 约0.7s（95%响应/1°C分辨率时）
采样速率 约8s/次
显示 4行LCD
测量视野直径 7cm距离处为Ф2.5mm
瞄准 2束激光标记（2级）
测量波长 8～16μm
放射率补偿 ε=0.10～1.00（0.01步进）
功能 {zd0}、最小显示，模拟输出（需3909），RS-232C输出（需3909）
使用温湿度范围 0～40°C，35～85%rh(不凝结)
电源供应 6F22×1(连续使用约20小时)
体积及重量 47宽×200高×48厚mm,280g
附件 携带盒（1）,背带（1）
相关红外线测温仪产品介绍如下
1 MT4红外线测温仪-美国雷泰Raytek
21 3418非接触式红外测温仪--日本日置HIOKI
2 F62红外线测温仪-美国FLUKE福禄克 22 F576非接触红外测温仪-美国FLUKE福禄克
3 ST60红外线温度计-美国雷泰Raytek
23 3ILTDL3U高温红外测温仪-美国raytek雷泰
4 ST80红外测温仪-美国雷泰Raytek
24 3ILTCL3U高温红外线测温仪-美国Raytek雷泰
5 ST80IS非接触测温仪-美国雷泰Raytek 25 3ILRSCU高温红外测温仪-美国Raytek雷泰
6 MX2 MX4 红外测温仪-美国雷泰raytek 26 3443温度计/温度表--日本日置HIOKI
7 MX4+红外线测温仪/非接触测温仪-美国雷泰Raytek 27 3ILRL3U高温红外测温仪-美国Raytek雷泰
8 F63红外线测温仪-美国FLUKE 28 3444放射温度计--日本日置HIOKI
9 F66红外线测温仪-美国FLUKE福禄克 29 3ILRSC/L2U高温红外线测温仪-美国Raytek雷泰
10 F68红外测温仪-美国FLUKE福禄克 30 3445红外线测温仪/放射温度计--日本日置HIOKI
11 F68IS红外/接触两用测温仪-美国FLUKE福禄克 31 3I1MSCU高温红外测温仪-美国Raytek雷泰
12 F561二合一便携式红外测温仪-美国FLUKE福禄克 32 3I1ML3U高温红外测温仪-美国Raytek雷泰
13 F566红外/接触式两用测温仪-美国FLUKE福禄克 33 3I1MSC/L2U红外测温仪-美国Raytek雷泰
14 F568红外和接触式两用测温仪-美国FLUKE福禄克 34 3I2MSCU红外测温仪-美国Raytek雷泰
15 F572红外测温仪-美国FLUKE福禄克 35 3I2ML3U红外测温仪-美国Raytek雷泰
16 F572-CF精密红外测温仪-美国FLUKE福禄克 36 3IP7DL3U专测塑料红外测温仪-美国Raytek雷泰
17 F574非接触测温仪/红外测温仪-美国FLUKE福禄克 37 3IG5SCU专测玻璃红外测温仪-美国Raytek雷泰
18 F574-CF精密红外测温仪（近焦型）-美国FLUKE福禄克 38 B9HR3IF4SCU专测火焰红外测温仪-美国Raytek雷泰
19 3415-01非接触式红外线测温仪--日本日置HIOKI 39 BCXR3IF4SCU专测火焰红外测温仪-美国Raytek雷泰
20 3416-01非接触放射温度计/红外测温仪--日本日置 40 MS6530B红外线测温仪--香港华谊
