半导体分立器件测试仪

BC3193半导体分立器件测试系统

测试系统用途及主要测试对象：二极管，三极管，可控硅，场效应管，（IGBT）绝缘栅双极三极管，达林顿矩阵，单结晶体管，光敏二极管，光敏三极管，光电耦合器，固态继电器等，DC/DC模块参数测试仪，MOS测试仪，三极管开关时间测试仪。

二极管及整流桥：VR、IR、VF、VZ、HVZ、动态阻抗。
　　三极管：BVCBO、BVCEO、BVCER、BVCES、BVEBO、ICBO、ICEO、ICER、ICES、IEBO、VCES、VBES、HFE。
　　可控硅：IGT、IH、IL、VGT、VON、BVAKF、BVAKR、BVAKO、IAKF、IAKR。
　　场效应管：BVDSS、BVDSR、BVDSO、BVDGO、BVGSO、BVGSS、IDSS、IDSO、IGDO、IGSO、IDSR、VGS、VDS、VTH、gm。
　　达林顿管：VCESAT、ICEO.R.S、IEBO、HFE、VBESAT、BVCEO. IGBT、BVCGR、BVGES、TGES、VCEST、VGETH。
　　光电耦合器：VF、IR、BVR、BVCEO、ICEO、CTR、VCESAT。

* 测试系统可对器件测试结果进行存储和打印。

* 测试原理符合相应的国家标准，国家xx标准和行业标准。
* 采用脉冲法测试功率参数，符合国家xx标准并有效的抑制测试温生。
* 采用Kelvin测试原理，排除线路电阻及接触电压，使大电流的参数测试更准。