CH-1-S型薄膜测厚仪 029-83769875

    面议

    陕西众佳科学仪器有限公司

    进入店铺
    商品目录
    图文详情
    CH-1-S型薄膜测厚仪 CH-1-S型薄膜测厚仪 本测厚议适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。 技术参数： 量 程：0-1mm　 分 度 值：0.001mm 上测头曲率半径：15-50mm 测头对试样施加负荷我：0.1-0.5N 测量精度：100vm以内＜1vm 100-250vm＜2vm 250vm＜3vm
    郑重声明：产品 【CH-1-S型薄膜测厚仪 029-83769875】由 陕西众佳科学仪器有限公司 发布，版权归原作者及其所在单位，其原创性以及文中陈述文字和内容未经(企业库qiyeku.com)证实，请读者仅作参考，并请自行核实相关内容。若本文有侵犯到您的版权， 请你提供相关证明及申请并与我们联系（qiyeku # qq.com）或【在线投诉】，我们审核后将会尽快处理。
    留言预约
    电话预约
    留言
    *主题
    *手机
    *联系人