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XDR-AZ350型工业半导体X射线检测设备可用于检测缺陷(裂纹、分层、空洞等)，如电子元器件、发光二极管、金属基板的脱层、裂纹等，并通过检测图像对比度来判断缺陷的材质、形状、大小、方位等是否存在缺陷。XDR-AZ350型设备大小均可定制 详情技术请咨询联系我们上海安竹光电